數(shù)字電子技術(shù)

目錄前言第1章門電路 11.1數(shù)字電路概述 11.1.1數(shù)字電路與模擬電路 11.1.2基本邏輯關(guān)系 11.2分立元件門電路 31.2.1二極管與門電路 31.2.2二極管或門電路 31.2.3晶體管的開關(guān)特性 41.2.4實用非門電路 61.3TTL門電路 91.3.1TTL與非門 91.3.2其他邏輯功能的TTL門電路 171.4ECL門電路 221.4.1基本結(jié)構(gòu)及原理 221.4.2特性 261.4.3邏輯擴展 291.5MOS門電路 311.5.1NMOS反相器 321.5.2NMOS門電路 361.5.3CMOS反相器及門電路 38習(xí)題 40第2章觸發(fā)器 452.1基本RS觸發(fā)器 452.2同步RS觸發(fā)器 472.3主從RS觸發(fā)器 492.4主從JK觸發(fā)器 502.5邊沿JK觸發(fā)器 542.6維持阻塞D觸發(fā)器 572.7觸發(fā)器的脈沖工作特性 592.8觸發(fā)器的邏輯功能分類 612.9MOS觸發(fā)器 64習(xí)題 66第3章脈沖的產(chǎn)生與整形 703.1脈沖發(fā)生器 703.1.1集成運算放大器方波發(fā)生器 703.1.2TTL與非門方波發(fā)生器 713.2單穩(wěn)電路 783.2.1微分型單穩(wěn)電路 793.2.2積分型單穩(wěn)電路 803.2.3集成單穩(wěn)電路 813.2.4單穩(wěn)電路的應(yīng)用 833.3施密特電路 853.3.1運算放大器構(gòu)成的施密特電路 853.3.2集成TTL施密特電路 853.3.3與非門構(gòu)成的施密特電路 883.3.4施密特電路的應(yīng)用 893.4定時器 903.4.1555定時器電路 903.4.2定時器的應(yīng)用 91習(xí)題 94第4章光電器件及其應(yīng)用 974.1光電器件 974.1.1光敏電阻 974.1.2光敏二極管 984.1.3光敏晶體管 994.1.4發(fā)光二極管 1004.1.5光耦合器 1004.2數(shù)據(jù)顯示 1024.2.1七段顯示 1024.2.2點陣顯示 1034.2.3多位數(shù)據(jù)顯示 105第5章模擬開關(guān) 1075.1概述 1075.2晶體管模擬開關(guān) 1085.2.1基本原理 1085.2.2正接與反接 1085.2.3正向運用與反向運用 1095.2.4晶體管并聯(lián)互補模擬開關(guān) 1095.2.5電路實例 1105.3結(jié)型場效應(yīng)晶體管模擬開關(guān) 1115.4絕緣柵場效應(yīng)晶體管模擬開關(guān) 112習(xí)題 115第6章數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器 1166.1DAC的基本原理 1166.2DAC的典型電路 1186.2.1權(quán)電阻型DAC 1186.2.2R-2R型DAC 1216.2.3倒置R-2R型DAC 1236.2.4雙極型開關(guān)DAC 1246.2.5CMOS開關(guān)DAC 1266.3雙極性DAC 1286.3.1雙極性代碼 1296.3.2偏流補償雙極性轉(zhuǎn)換 1296.3.3MDAC雙極性轉(zhuǎn)換 1316.4DAC轉(zhuǎn)移特性 1346.5DAC的主要參數(shù) 1346.5.1分辨率 1346.5.2精度與誤差 1356.5.3建立時間 1376.6器件實例 1386.6.1DAC1132 1386.6.2AD7520 1416.6.3DAC0832 1426.7DAC的校準(zhǔn)與測試 1446.7.1用數(shù)字電壓表進行校準(zhǔn)與測試 1446.7.2位掃描DAC校準(zhǔn)與測試 145習(xí)題 147第7章模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器 1497.1概述 1497.2計數(shù)式ADC 1507.2.1電壓-時間間隔-數(shù)字轉(zhuǎn)換器 1517.2.2電壓-頻率-數(shù)字轉(zhuǎn)換器 1547.3比較式ADC 1557.3.1工作原理 1557.3.2逐位逼近式ADC的工作過程 1567.3.3比較器 1587.3.4雙極性轉(zhuǎn)換 1597.4高速ADC 1607.5ADC的轉(zhuǎn)移特性 1637.6ADC的主要參數(shù) 1647.6.1轉(zhuǎn)換時間 1647.6.2分辨率 1647.6.3精度與誤差 1647.7器件實例 1667.7.1AD572 1667.7.2ADC0809 1727.8ADC的校準(zhǔn)與測試 1747.8.1用數(shù)字電壓表進行校準(zhǔn)與測試 1747.8.2用基準(zhǔn)DAC測試ADC 174習(xí)題 175第8章I/O常用電路 1778.1電壓測量電路 1778.1.1電位差測量 1778.1.2阻抗變換器 1798.1.3隔離放大器 1798.2電流測量電路 1808.2.1浮置零阻電流測量電路 1808.2.2高電位電流測量電路 1818.3采樣保持電路 1828.3.1基本電路及功能 1828.3.2主要參數(shù) 1838.3.3常用采樣保持電路 1848.4參考電壓電路 1868.4.1穩(wěn)壓二極管參考電壓電路 1868.4.2低參考電壓電路 186第9章信號傳輸 1909.1概述 1909.2傳輸線 1909.2.1信號傳輸?shù)幕驹?1909.2.2傳輸線的基本特性 1919.2.3傳輸線的終端反射 1939.2.4多次反射 1969.2.5脈沖信號在傳輸線上的傳輸 1989.3傳輸線匹配方法 1989.3.1終端匹配 1989.3.2始端匹配 1999.4信號傳輸方法 200附錄一習(xí)題參考答案 201附錄二二進制邏輯單元符號對照表 207參考文獻 208