近代物理實驗

實驗誤差和數(shù)據(jù)處理
§1引言
§2隨機變量
§3數(shù)據(jù)處理(Ⅰ),分布參數(shù)估計與分布規(guī)律的檢驗
§4數(shù)據(jù)處理(Ⅱ)：曲線擬合
§5限制和消除系統(tǒng)誤差的一些方法
第一單元原子物理
1-0引言
1-1弗蘭克-赫茲實驗
1-2氫原子光譜的同位素移位
附錄平面光柵攝譜儀
1-3鈉原子光譜的拍攝與分析
1-4塞曼效應(yīng)
1-5X射線標識譜與吸收
1-6CO埃氏(Angstrom)帶系光譜
1-7振動喇曼光譜
第二單元核探測技術(shù)及應(yīng)用
2-0引言
附錄一核衰變的統(tǒng)計規(guī)律和放射性測量的統(tǒng)計誤差
附錄二常用核電子儀器的功能及其使用
附錄三放射源的安全操作與防護
2-1蓋革-米勒計數(shù)器和核衰變的統(tǒng)計規(guī)律
2-2NaI(T1)閃爍譜儀測定y射線的能譜
2-3符合測量
*2-4穆斯堡爾效應(yīng)
*2-5用9粒子驗證相對論的動量-動能關(guān)系
附錄等效平均磁感應(yīng)強度的計算
*2-6正電子在物質(zhì)中壽命的測量
第三單元激光.全息與光學信息處理
3-0引言
3-1He-Ne氣體激光器放電條件的研究
3-2He-Ne激光器的縱模及橫模分析
3-3全息照相與全息干涉計量方法
3-4利用復合光柵實現(xiàn)光學微分處理
附錄傅里葉變換的基本公式
*3-5圖俊識別
第四單元其他光學實驗
4-0引言
4-1相位法測量光的速度
附錄相位測量中的周期誤差
4-2用反射橢偏儀測量折射率和薄膜厚度
4-3法拉第效應(yīng)
*4-4單光子計數(shù)
*4-5晶體的電光效應(yīng)及其應(yīng)用--用相位補償測量雙折射樣品的微小相位差
*4-6光學雙穩(wěn)實驗
附錄會聚偏振光的干涉
第五單元奠空技術(shù)
5-0引言
附錄常用真空泵和真空計簡介
5-1高壓強電離真空計的校準
5-2磁偏轉(zhuǎn)質(zhì)譜儀
第六單元X射線和電子衍射
6-0引言
附錄晶體衍射的基本知識
6-1用X射線測定多晶體的晶格常數(shù)(德拜相法)
6-2電子衍射
*6-3有確定取向晶體的X光勞厄相
*6-4單晶體晶軸方向的確定(非對稱勞厄相)
第七單元磁共振
7-0引言
7-1核磁共振
7-2電子自旋共振
7-3光泵磁共振
附錄一二級塞曼效應(yīng)及雙量子躍遷的觀察
附錄二角動量耦合及耦合磁矩的矢量模型
第八單元微波實驗
8-0引言
附錄微波基本知識
8-1反射式速調(diào)管的工作特性和波導管的工作狀態(tài)
8-2用傳輸式諧振腔觀測鐵磁共振
*8-3用諧振腔微擾法測量介質(zhì)材料的微波介電常數(shù)和磁導率
*8-4用諧振腔特征方程法測量微波介質(zhì)材料的特性
第九單元低溫物理實驗
9-0引言
附錄使用低溫液體的注意事項
9-1純銅低溫熱導率的測量
9-2電阻的溫度關(guān)系和減壓降溫技術(shù)
9-3液氮溫區(qū)高溫超導體兩個基本特性的觀察
第十單元半導體物理實驗
10-0引言
附錄半導體物理的基礎(chǔ)知識
10-1硅的霍耳系數(shù)及電阻率的測量
10-2用電容-電壓法測量半導體中的雜質(zhì)分布
*10-3用取樣示波器測量晶體二極管的反向恢復時間
*10-4肖脫墓勢壘的測量
附表