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幾何量公差與檢測(cè)

幾何量公差與檢測(cè)

定　價(jià)：￥5.20

作　者： 甘永立主編
出版社： 上海科學(xué)技術(shù)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽： 機(jī)械元件 互換性 測(cè)量
ISBN： 9787532330881 出版時(shí)間： 1993-05-01 包裝：
開(kāi)本： 26cm 頁(yè)數(shù)： 272頁(yè) 字?jǐn)?shù)：  

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　本書(shū)分幾何量測(cè)量基礎(chǔ)、孔軸公差配合與檢測(cè)、形狀和位置公差與檢測(cè)等12章。

作者簡(jiǎn)介

暫缺《幾何量公差與檢測(cè)》作者簡(jiǎn)介

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