試驗設(shè)計與分析及參數(shù)優(yōu)化

定　價：￥69.00

作　者：	（美）[吳建福]（C. F. Jeff Wu），（美） [邁克爾·哈曼蒂]（Michael Hamada）著；張潤楚等譯
出版社：	中國統(tǒng)計出版社
叢編項：
標(biāo)　簽：	暫缺

ISBN：	9787503740237	出版時間：	2003-01-01	包裝：
開本：	26cm	頁數(shù)：	577頁	字數(shù)：

　　本書從理論和應(yīng)用兩個角度深刻地闡述了試驗設(shè)計的基本原理和思想，全面系統(tǒng)介紹了試驗設(shè)計的一般理論和方法，包括各種設(shè)計的構(gòu)造和分析、建模理論和數(shù)據(jù)分析方法。

暫缺《試驗設(shè)計與分析及參數(shù)優(yōu)化》作者簡介

暫缺《試驗設(shè)計與分析及參數(shù)優(yōu)化》目錄

掃描二維碼