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試驗設計與分析及參數優(yōu)化

試驗設計與分析及參數優(yōu)化

定　價：￥69.00

作　者： （美）[吳建福]（C. F. Jeff Wu），（美） [邁克爾·哈曼蒂]（Michael Hamada）著；張潤楚等譯
出版社： 中國統(tǒng)計出版社
叢編項：
標　簽： 暫缺

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ISBN： 9787503740237 出版時間： 2003-01-01 包裝：
開本： 26cm 頁數： 577頁 字數：  

內容簡介

　　本書從理論和應用兩個角度深刻地闡述了試驗設計的基本原理和思想，全面系統(tǒng)介紹了試驗設計的一般理論和方法，包括各種設計的構造和分析、建模理論和數據分析方法。

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