X射線衍射分析原理與應(yīng)用

定　價：￥25.00

作　者：	劉粵惠，劉平安編著
出版社：	化學(xué)工業(yè)出版社
叢編項：
標　簽：	暫缺

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ISBN：	9787502548308	出版時間：	2003-10-01	包裝：	平裝
開本：	21cm	頁數(shù)：	258	字數(shù)：

內(nèi)容簡介

　　本書在對X射線衍射分析原理簡單介紹基礎(chǔ)上，選出了許多有代表性的應(yīng)用實例，重點介紹X射線分析法在新型材料研究方面的應(yīng)用。全書共10章。第1章為概述。第2-第5章為X射線衍射分析法基礎(chǔ)理論部分。第6、第7章為X線衍射物相定性和定量分析方法。第8章為衍射系統(tǒng)的消光概念及應(yīng)用。第9章為應(yīng)用實例。第10章為Rietveld方法簡介。本書可作為高等學(xué)校化工、材料類專業(yè)有關(guān)“測試方法”、“材料結(jié)構(gòu)”課程本科生、研究生的教材，也可作為相關(guān)科研工作者及廠礦技術(shù)人員的參考書。

作者簡介

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圖書目錄

第1章
概述
1．1
材料分析表征方法簡述
1．2
X射線衍射分析技術(shù)的發(fā)展及現(xiàn)狀
1．3
X射線應(yīng)用技術(shù)簡介第2章
X射線的產(chǎn)生及性質(zhì)
2．1
X射線的性質(zhì)
2．2
X射線的產(chǎn)生
2．3
X射線譜
2．4
X射線與物質(zhì)的相互作用第3章
X射線衍射原理
3．1
晶體學(xué)基礎(chǔ)
3．2
X射線衍射原理
3．3
X射線衍射方程
第4章
X射線衍射方法
4．1
粉晶體射儀法
4．2
其他X射線衍射儀第5章
X射線衍射數(shù)據(jù)
5．1
衍射方向
5．2
衍射強度
5．3
衍射數(shù)據(jù)的確定和表示
5．4
衍射線分離第6章
X射線物相定性分析
6．1
概念與原理
6．2
標準衍射數(shù)據(jù)資料簡介
6．3
物相分析方法及步驟第7章
X射線物相定量分析
7．1
物相定量分析原理
7．2
物相定量分析方法
第8章
衍射系統(tǒng)消光概念及應(yīng)用
8．1
衍射系統(tǒng)的光規(guī)律
8．2
消光規(guī)律應(yīng)用
第9章
X射線衍射分析方法的應(yīng)用
9．1
X射線物相鑒定
9．2
物相定量分析
9．3
粉末晶體結(jié)構(gòu)分析
9．4
晶粒度及晶格應(yīng)變的測定第10章
X射線衍射結(jié)構(gòu)分析的新方法——Rietveld法
10．1
Rietveld方法的基本原理
10．2
Rietveld分析的實驗方案
10．3
Rietveld方法的應(yīng)用