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公差與測量技術

公差與測量技術

定　價：￥7.40

作　者： 王玉榮，張應昌主編
出版社： 陜西科學技術出版社
叢編項：
標　簽： 暫缺
ISBN： 9787536907973 出版時間： 1990-01-01 包裝：
開本： 26cm 頁數(shù)： 323頁 字數(shù)：  

內(nèi)容簡介

　　本書包括互換性和標準化概論、圓柱公差與配合、形狀和位置公差、表面粗糙度等內(nèi)容。

作者簡介

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