萬用表檢測技術(shù)（上）

定　價(jià)：￥22.00

作　者：	沙占友，沙莎著
出版社：	電子工業(yè)出版社
叢編項(xiàng)：	萬用表實(shí)用技術(shù)叢書
標(biāo)　簽：	電工技術(shù)

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ISBN：	9787121008917	出版時(shí)間：	2005-02-01	包裝：	膠版紙
開本：	小16開	頁數(shù)：	240	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡介

　　本書為“世紀(jì)新版萬用表實(shí)用技術(shù)叢書”的第二冊。本書共12章，從實(shí)用角度出發(fā)，深入闡述了利用指針萬用表檢測半導(dǎo)體二極管、特種半導(dǎo)體二極管、穩(wěn)壓管、穩(wěn)流管、可調(diào)試精密并聯(lián)穩(wěn)壓器、整流器件、雙極型晶體管、場效應(yīng)管、單結(jié)晶體管、晶閘管、光電器件、光耦合器、顯示器件的原理、方法及注意事項(xiàng)，共計(jì)160個(gè)典型實(shí)例。本書具有科學(xué)性、實(shí)用性和創(chuàng)新性，題材，內(nèi)容豐富，深入淺出，可供電子與電工技術(shù)技術(shù)人員，儀器儀表及家用電器維修人員和電子愛好者閱讀。

作者簡介

　　沙占友，河北科技大學(xué)教授，校級(jí)教學(xué)名師，河北省優(yōu)秀教師.已出版《數(shù)字化測量技術(shù)與應(yīng)用》、《新型單片開關(guān)電源的設(shè)計(jì)與應(yīng)用》、《集成化智能傳感器原理與應(yīng)用》、《智能傳感器系統(tǒng)設(shè)計(jì)與應(yīng)用》、《單片機(jī)外圍電路設(shè)計(jì)》等21部專著，發(fā)表學(xué)術(shù)論文245篇。曾先后榮獲河北省普通高校優(yōu)秀教學(xué)成果一等獎(jiǎng)、河北省科技進(jìn)步獎(jiǎng)，河北省十大發(fā)明獎(jiǎng)和97布魯塞爾尤里卡銀獎(jiǎng)。相關(guān)圖書

圖書目錄

第1章檢測半導(dǎo)體二極管
1.1 判定二級(jí)管正、負(fù)極的方法
1.2 檢測二級(jí)管質(zhì)量好壞的方法
1.3 區(qū)分硅二極管與鍺二極管的方法之一
1.4 區(qū)分硅二極管與鍺二極管的方法之二
1.5 測量二極管反向擊穿電壓的方法
1.6 測繪二極管伏安特性的方法
1.7 檢測高速開關(guān)二極管的方法
第2章檢測特種半導(dǎo)體二極管
2.1 檢測快恢復(fù)、超快恢復(fù)二極管的方法
2.2 檢測消特基二極管的方法
2.3 檢測隧道二極管的方法
2.4 檢測變?nèi)荻O管的方法
第3章檢測穩(wěn)壓管
3.1 穩(wěn)壓管的產(chǎn)品分類
3.2 區(qū)分穩(wěn)壓管與二極管的方法
3.3 檢測穩(wěn)壓管質(zhì)量好壞的方法
3.4 測量穩(wěn)壓管電壓的方法
3.5 測量穩(wěn)壓管伏安特性的方法
第4章檢測恒流源
4.1 恒流源的產(chǎn)品分類
4.2 檢測恒流二極管的方法
4.3 檢測恒流三極管的方法
4.4 檢測可調(diào)式精密集成恒流源的方法
4.5 測繪穩(wěn)流管伏安特性的方法
第5章檢測整流器件
5.1 檢測整流二極管的方法
5.2 檢測整流橋的方法
5.3 檢測高壓硅堆的方法
第6章檢測雙極型晶體管
6.1 判定晶體管電極的方法
6.2 準(zhǔn)確判定晶體管C、E電極的方法
6.3 區(qū)分硅晶體管與鍺晶體管的方法
6.4 區(qū)分高頻管與低頻管的方法
6.5 測量晶體管穿插透電流的方法
6.6 測量晶體管反向截止電流的方法
6.7 測量晶體管擊穿電壓的方法
6.8 估測晶體管放大能力的方法
6.9 估測晶體管hFE的方法
6.1 準(zhǔn)確測量晶體管hFE的簡便方法
6.11 測量在線晶體管hFE的一般方法
6.12 測量晶體管的hFE一般方法
6.13 利用LI刻度線測量晶體管hFE的方法
6.14 檢測片狀晶體管的方法
6.15 判定晶體管工作狀態(tài)的方法
6.16 測繪晶體管正向AGC特性的方法
6.17 晶體管放大器故障速查法
6.18 估測功率晶體管放大能力的方法
6.19 估測功率晶體管hFE的方法
6.2 檢測功率開關(guān)管的方法
6.21 檢測達(dá)林頓管的方法
6.22 檢測微型高增益達(dá)林頓管的方法
6.23 檢測巨型晶體管的方法
6.24 檢測差分對(duì)管的方法
6.25 檢測互補(bǔ)對(duì)管的方法
第7章檢測場效應(yīng)管
7.1 判定結(jié)型場效應(yīng)管電極的方法
7.2 檢查結(jié)型場效應(yīng)管質(zhì)量好壞的方法
7.3 估測結(jié)型場效應(yīng)管放大能力的方法
7.4 測量結(jié)型場效應(yīng)管漏-源通態(tài)電陰及零偏壓跨導(dǎo)的方法
7.5 測量結(jié)型場效應(yīng)管柵-源截止電壓的方法
7.6 測量結(jié)型場效應(yīng)管零偏壓漏極電流及飽和區(qū)跨導(dǎo)的方法
7.7 測量結(jié)型場效應(yīng)管擊穿插電壓的方法
7.8 檢測MOS場效應(yīng)管的方法
7.9 檢測VMOS場效應(yīng)管的方法
7.1 檢測IGBT的方法
第8章檢測單結(jié)晶體管
8.1 判定單結(jié)晶體管電極的方法
8.2 檢查單結(jié)晶體管觸發(fā)能力的方法
8.3 估測單結(jié)晶體管分壓比及峰值電壓的方法
8.4 測量單結(jié)晶體管分壓比的方法
8.5 測量程控制單結(jié)晶體管的方法
第9章檢測晶閘管
9.1 判定普通晶閘管和快速晶閘管電極的方法
9.2 檢查晶閘管觸發(fā)能力的方法
9.3 測量晶閘管斷態(tài)峰值電壓的方法
9.4 判定雙向晶閘管的電極并檢查觸發(fā)能力的方法
9.5 檢查大功率雙向晶閘管觸發(fā)能力的方法
9.6 檢測雙向晶閘管質(zhì)量好壞的方法
9.7 檢測雙向二極管的方法
9.8 檢測硅單向開關(guān)的方法
9.9 檢測硅雙向開關(guān)的方法
9.1 檢測可關(guān)斷晶閘管的方法
9.11 檢測硅控制開關(guān)的方法
9.12 檢測逆導(dǎo)晶閘管的方法
第1章檢測光電器件
1.1 檢測單色發(fā)光二極管的方法
1.2 區(qū)分高亮度、低亮度發(fā)光二極管的方法
1.3 檢測微型發(fā)光二極管的方法
1.4 檢測藍(lán)色高亮度發(fā)光二極管的方法
1.5 檢測白色高亮度發(fā)光二極管的方法
1.6 檢測雙色發(fā)光二極管的方法
1.7 檢測三變色發(fā)光二極管的方法
1.8 測量發(fā)光二極管正向電壓的方法
1.9 同時(shí)測量發(fā)光二極管正向電流和正向電壓的方法
1.1 測繪發(fā)光二極管伏安特性的方法
1.11 測繪變色發(fā)光二極管伏安特性的方法
1.12 檢測電壓控制型發(fā)光二極管的方法
1.13 檢測閃爍發(fā)光二極管的方法
1.14 檢測負(fù)阻型發(fā)光二接管的方法
1.15 檢測光電管的方法
1.16 檢測光電二極管的方法
1.17 檢測光敏三極管的方法
1.18 檢測紅外發(fā)射、接收對(duì)管的方法
1.19 檢測光電開關(guān)的方法
1.2 檢測光敏電阻的方法
第11章檢測光耦合器
11.1 檢測光耦合器的方法
11.2 測量光耦合器主要參數(shù)的方法
11.3 估測光耦合器電流傳輸能力的方法
11.4 測量光耦合器電流傳輸比的方法
11.5 區(qū)分通用型與達(dá)林頓型光耦合器的方法
11.6 檢測線性光耦合器的方法
第12章檢測顯示器件
12.1 常顯示器件的產(chǎn)品分類
12.2 檢測輝光數(shù)碼管的方法
12.3 檢測熒光碼管的方法
12.4 檢測LED數(shù)碼管的方法
12.5 檢測大型LED數(shù)碼管的方法
12.6 區(qū)分高亮度、普通亮度LED數(shù)碼管的方法
12.7 檢測LED符號(hào)管的方法
12.8 檢測LED電平顯示器的方法
12.9 檢測LED條圖顯示器的方法
12.1 檢測雙位及三位LED數(shù)碼管的方法
12.11 檢測雙位LED掃描顯示器的方法
12.12 檢測單色LED點(diǎn)陣顯示器的方法
12.13 檢測彩色LED點(diǎn)陣顯示器的方法
12.14 檢測微型化多位LED點(diǎn)陣顯示器的方法
12.15 檢測LED面發(fā)光器件的方法
12.16 檢測CMOS-LED組件的方法
12.17 檢測多位CMOS-LED組件的方法
12.18 檢測靜態(tài)驅(qū)動(dòng)式LCD的方法
12.19 檢測掃描驅(qū)動(dòng)式LCD的方法
12.2 檢測LCD點(diǎn)陣顯示器的方法
12.21 檢測CRT像元管的方法
12.22 檢測磁翻板顯示器的方法