介質(zhì)諧振器的微波測量

　　本書在作者多年從事介質(zhì)諧振器及其測試方法研究的基礎(chǔ)上編著而成。全書共4章，主要內(nèi)容包括介質(zhì)諧振器、高介微波陶瓷及其基本應(yīng)用，截止開腔中的介質(zhì)諧振測量技術(shù)，截止閉腔中的介質(zhì)諧振測量技術(shù)，耳語坑道模介質(zhì)諧振測量技術(shù)，腔外微擾測量原理與技術(shù)，微波頻率低端的諧振測量技術(shù)，微波下三次交叉調(diào)制失真率的測量等。本書所介紹的利用介質(zhì)自身諧振的測量技術(shù)和介質(zhì)自身無須諧振的測量技術(shù)，是新型電子元器件、通信部件、非金屬材料諸領(lǐng)域的研究、開發(fā)、應(yīng)用中必不可少的重要手段和技術(shù)。 本書可供從事電子-材料領(lǐng)域、通信-信息領(lǐng)域和電介質(zhì)物理研究的科研、教學(xué)、開發(fā)、應(yīng)用、測試和計量等工作的科技人員及大專院校有關(guān)師生參考。 前言 本書主要反映我們從事介質(zhì)諧振器方面的研究及所取得的成果，并對相關(guān)文獻報道的研究成果進行了總結(jié)。其涉及材料、應(yīng)用和測試三個方面。由于涉及的面廣、內(nèi)容豐富，且材料、應(yīng)用方面都有不少論文、專著，故本書只著重敘述測試方法與技術(shù)方面。為了使讀者對介質(zhì)諧振器有一個較全面的了解，書中也極其扼要地介紹了什么是介質(zhì)諧振器，以及當(dāng)今常用的高介微波陶瓷、介質(zhì)諧振器的組合和基本應(yīng)用等。本書所介紹的測試方法主要是針對中、低損耗的高介微波材料，也稱介質(zhì)諧振器材料。由于被測的介質(zhì)樣品通常就是一個諧振子，所以它又稱介質(zhì)諧振器。書中將文獻報道的絕大部分測量方法歸結(jié)為截止空腔中的介質(zhì)自身諧振測量技術(shù)，而將我們創(chuàng)立的介質(zhì)自身無須諧振的方法稱腔外微擾測量技術(shù)。腔外微擾法目前已達到能用同一樣品、同一腔體在8．2～40GHz的離散頻率下獲得介電譜。此外，由于介質(zhì)本身沒有諧振，故腔外微擾法也同時適合于測量較大損耗甚至大損耗的介質(zhì)。這個測試系統(tǒng)已開始應(yīng)用。最后，書中還介紹了一些經(jīng)改進后可沿用的還能方便地施加直流偏壓的方法。因此，可以說本書是對《材料科學(xué)中的介電譜技術(shù)》（科學(xué)出版社，1999）一書中有關(guān)頻域測量技術(shù)的補充和發(fā)展。 眾所周知，信息功能陶瓷的微波響應(yīng)能作為闡明材料的微結(jié)構(gòu)、缺陷等與宏觀性能關(guān)系的重要依據(jù)，也為新型電子元器件、通信部件等方面提供設(shè)計參數(shù)。由于新材料的相繼問世和現(xiàn)有材料的不斷改進、電子-信息系統(tǒng)的飛速發(fā)展，研究和創(chuàng)新材料微波性能評價技術(shù)與系統(tǒng)也在不斷取得新的成果。作者期望，本書的問世將為電介質(zhì)物理學(xué)、電子材料及通信-信息的基礎(chǔ)研究再提供一些人們便于采用的手段和技術(shù)，也為材料電磁學(xué)參數(shù)測試方法的進一步研究提供一些思路，以期共同促進實現(xiàn)微小型、輕便、穩(wěn)定、安全可靠的微波系統(tǒng)及其模塊化、多功能化，以幫助和帶動微波集成向大面積發(fā)展，最終走上全面集成化。 在本書撰寫過程中曾得到浙江大學(xué)、解放軍總裝備部、惠州市、惠州學(xué)院和桂林電子工業(yè)學(xué)院等有關(guān)部門的研究經(jīng)費資助，以及有關(guān)領(lǐng)導(dǎo)的全力支持和同事的大力合作；得到浙江大學(xué)的朱永花副教授、王艷華老師，杭州中國計量學(xué)院的徐江峰副教授，惠州學(xué)院的方振逵副教授、劉曉莉老師、凌家良老師、羅萍老師，以及桂林電子工業(yè)學(xué)院敖發(fā)良教授、李思敏教授、姜興副教授的幫助和支持。在此，對上述部門、單位、領(lǐng)導(dǎo)、同事和朋友致以衷心感謝！ 倪爾瑚 2005年10月

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