數(shù)字電子技術(shù)實驗與綜合實訓(xùn)

第1章　數(shù)字電子技術(shù)實訓(xùn)基礎(chǔ)知識　1
1.1　實驗室的安全操作規(guī)程　1
1.1.1　人身安全　1
1.1.2　儀器、設(shè)備安全　1
1.2　數(shù)字電路實驗常用器材和工具的使用　2
1.2.1　常用器材　2
1.2.2　常用工具　3
1.3　數(shù)字電路的實驗方法　3
1.3.1　TTL與CMOS數(shù)字集成電路的使用規(guī)則　4
1.3.2　TTL與CMOS電路的主要電氣參數(shù)指標(biāo)　5
1.3.3　數(shù)字電路的功能測試方法　7
1.3.4　數(shù)字電路的實驗測試手段　8
1.3.5　從實驗原理圖畫接線圖的方法　9
1.4　數(shù)字電路常見故障的診斷與排除　10
1.4.1　數(shù)字電路常見故障　10
1.4.2　數(shù)字電路常見故障的檢查與排除方法　11第2章　數(shù)字電子技術(shù)實驗　14
2.1　數(shù)字電路實驗的意義、目的、要求　14
2.1.1　實驗的意義　14
2.1.2　實驗的目的　14
2.1.3　實驗的基本要求及實驗報告的撰寫　15
2.1.4　實驗的學(xué)習(xí)方法　17
2.2　數(shù)字電子技術(shù)實驗的一般方法　18
2.2.1　驗證性實驗　18
2.2.2　設(shè)計性實驗　18
2.2.3　利用數(shù)字電子技術(shù)CAI課件(DLCCAI)的實驗　19
2.3　實驗考核　19
2.3.1　實驗筆試方法及樣卷　19
2.3.2　實驗操作考試方法及樣題　20
2.4　數(shù)字電子技術(shù)實驗課題　24
實驗一　集成邏輯門電路的功能測試　24
實驗二　集成邏輯門電路的參數(shù)測試　27
實驗三　集成門構(gòu)成組合邏輯電路的實驗分析　29
實驗四　中規(guī)模譯碼器　31
實驗五　中規(guī)模數(shù)據(jù)選擇器　33
實驗六　雙蹤示波器的使用　35
實驗七　觸發(fā)器　37
實驗八　觸發(fā)器構(gòu)成的計數(shù)器　40
實驗九　中規(guī)模計數(shù)器的應(yīng)用　43
實驗十　計數(shù)、譯碼、顯示綜合實驗　45
實驗十一　順序脈沖發(fā)生器　47
實驗十二　利用集成邏輯門構(gòu)成脈沖電路　49
實驗十三　集成單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器和集成施密特觸發(fā)器　52
實驗十四　555定時器　54
實驗十五　模/數(shù)(A/D)轉(zhuǎn)換和數(shù)/模(D/A)轉(zhuǎn)換及其應(yīng)用　56
實驗十六　利用DLCCAI分析組合邏輯電路　58
實驗十七　利用DLCCAI分析組合電路的競爭冒險現(xiàn)象　60
實驗十八　利用DLCCAI分析觸發(fā)器的邏輯功能　62
實驗十九　利用DLCCAI分析N進制計數(shù)器　65
實驗二十　利用DLCCAI分析時序邏輯電路　68第3章　數(shù)字電路綜合實訓(xùn)　72
3.1　數(shù)字電路綜合實訓(xùn)的基本任務(wù)和基本要求　72
3.1.1　綜合實訓(xùn)的基本任務(wù)　72
3.1.2　綜合實訓(xùn)的基本要求　72
3.2　數(shù)字電路綜合實訓(xùn)的基本步驟和方法　73
3.2.1　綜合實訓(xùn)的基本步驟　73
3.2.2　綜合實訓(xùn)的時間安排建議　75
3.2.3　綜合實訓(xùn)的成績評定方法　76
3.2.4　綜合實訓(xùn)實驗文件的標(biāo)準格式　76
3.3　排除故障訓(xùn)練與考核　78
3.3.1　綜合實訓(xùn)中常見故障及排除故障的方法　78
3.3.2　排故障考核的方式　79
3.3.3　常考故障、產(chǎn)生原因及其查找方法　79
3.4　綜合實訓(xùn)課題　82
3.4.1　自動報時數(shù)字鐘　82
3.4.2　籃球比賽計時器　92
3.4.3　簡易數(shù)字頻率計　97
3.4.4　智力競賽搶答器　102
3.4.5　交通控制器　107
3.4.6　數(shù)碼順序、循環(huán)顯示控制器　111附錄A　數(shù)字邏輯實驗儀　115
附A1　多孔實驗插座板部分　115
附A2　操作板部分　116
附A3　多路電源部分　119附錄B　示波器與數(shù)字萬用表使用簡介　120
附B1　XJ4328型雙蹤示波器　120
附B1.1　概述　120
附B1.2　面板上各控制件的作用　120
附B1.3　使用方法　122
附B2　DT-830/831數(shù)字萬用表　125
附B2.1　概述　125
附B2.2　主要技術(shù)指標(biāo)(測量范圍)　126
附B2.3　使用方法及注意事項　126附錄C　實驗室常用數(shù)字電路元器件型號、主要性能參數(shù)及功能　128
附C1　電阻器和電位器　128
附C1.1　電阻器和電位器的型號命名法　128
附C1.2　幾種常用電阻器的特點　128
附C1.3　電阻器的主要性能指標(biāo)　129
附C2　電容器　130
附C2.1　電容器的型號命名法　130
附C2.2　常用電容器的種類和特點　130
附C2.3　電容器的主要性能指標(biāo)　131
附C3　常用數(shù)字集成電路型號及外引線排列圖　132
附C3.1　國產(chǎn)半導(dǎo)體集成電路型號命名法　132
附C3.2　國際TTL/CMOS數(shù)字集成電路主要生產(chǎn)公司和產(chǎn)品型號前綴　132
附C3.3　常用集成電路型號及其外引線排列圖　133
附C3.4　常用TTL數(shù)字集成電路型號及功能　140
附C3.5　常用CMOS數(shù)字集成電路型號及功能　143
附C3.6　部分數(shù)字集成電路的功能　145參考文獻　161