材料近代分析測(cè)試方法實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)

定　價(jià)：￥18.00

作　者：	邱平善
出版社：	哈爾濱工程大學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：	材料科學(xué)與工程系列教材
標(biāo)　簽：	無線電

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ISBN：	9787810731584	出版時(shí)間：	2001-08-01	包裝：	平裝
開本：		頁數(shù)：	206	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡介

　　本書是《材料近代分析測(cè)試方法》的配套教材，全書分四章，共25個(gè)實(shí)驗(yàn)。第1章是光學(xué)顯微分析，第2章為x射線衍射分析，第3章為電子顯微分析，第4章為其他近代材料測(cè)試技術(shù)（包括俄歇譜儀、X射線光電子、紅外譜儀、核磁共振譜儀、質(zhì)譜儀、超聲波探傷及熱分析等），同時(shí)摘錄了檢測(cè)分析的常用附錄。在每個(gè)實(shí)驗(yàn)中對(duì)實(shí)驗(yàn)?zāi)康?、?shí)驗(yàn)設(shè)備結(jié)構(gòu)及工作原理、實(shí)驗(yàn)方法和步驟，以及實(shí)驗(yàn)報(bào)告的要求都做了簡要闡述。本書可作為高等學(xué)校材料類專業(yè)本科生、研究生實(shí)驗(yàn)教材，也可供從事材料檢測(cè)和材料選用的科技及工程人員參考。

作者簡介

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圖書目錄

第1章光學(xué)顯微分析
1.1 金相試樣的制備
1.2 光學(xué)顯微鏡的構(gòu)造和使用
1.3 偏光和相襯顯微分析
1.4 顯微攝影和暗室技術(shù)
1.5 定量金相分析
第2章 X射線衍射分析
2.1 德拜照像法及單相立方系粉末相的計(jì)算
2.2 用x射線衍射儀進(jìn)行多相物質(zhì)的相分析
2.3 點(diǎn)陣參數(shù)的精確測(cè)定
2.4 用直接對(duì)比法測(cè)定鋼中殘余奧氏體含量
2.5 用勞埃法測(cè)定單晶體取向
2.6 宏觀應(yīng)力的測(cè)定
2.7 微觀應(yīng)力的測(cè)定
第3章電子顯微分析
3.1 復(fù)型制造技術(shù)
3.2 透射電鏡的構(gòu)造及顯微組織觀察
3.3 金屬薄膜的制備及薄晶體顯微分析
3.4 電子衍射試驗(yàn)分析
3.5 掃描電鏡及其觀察
3.6 電子探針的結(jié)構(gòu)及應(yīng)用
第4章其他近代材料測(cè)試技術(shù)
4.1 俄歇電子能譜實(shí)驗(yàn)
4.2 x射線光電子能譜實(shí)驗(yàn)
4.3 紅外光譜法實(shí)驗(yàn)
4.4 熱分析實(shí)驗(yàn)
4.5 質(zhì)譜法實(shí)驗(yàn)
4.6 超聲波探傷的原理及操作
4.7 核磁共振原理及應(yīng)用
附錄
參考文獻(xiàn)