電子元器件可靠性設計

定　價：￥49.90

作　者：	王蘊輝,于宗光,孫再吉主編
出版社：	科學出版社
叢編項：	電子可靠性工程技術實踐叢書
標　簽：	計算

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ISBN：	9787030196385	出版時間：	2007-09-01	包裝：	平裝
開本：	16	頁數(shù)：	514	字數(shù)：

內(nèi)容簡介

　　為使我國電子元器件可靠性技術的研究和應用邁向一個新臺階，促進元器件固有可靠性水平的提高，我們組織國內(nèi)重點元器件研制生產(chǎn)單位長期從事元器件設計的專家，在總結多年可靠性工作經(jīng)驗的基礎上，密切結合我國元器件的實際情況，編寫此書，呈現(xiàn)給讀者。本書共分9章，內(nèi)容涉及電子元器件可靠性設計的一般要求；單片集成電路可靠性設計；混合集成電路可靠性設計與控制；半導體分立器件可靠性設計；連接器可靠性設計；繼電器可靠性設計；電容器可靠性設計；微特電機可靠性設計；聲表面波器件可靠性設計等。本書內(nèi)容全面，翔實，涵蓋電子元器件可靠性設計和控制所必需的基本技術與方法。另外，對各類元器件均給出了應用實例。本書既可作為電子元器件研制、生產(chǎn)單位的培訓教材，也可作為高等院校研究生、本科生的參考教材，同時也可供廣大工程技術人員參考。

作者簡介

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圖書目錄

第1章電子元器件可靠性設計的一般要求
1.1 電子元器件可靠性的基本概念
1.1.1 電子元器件及分類
1.1.2 電子元器件可靠性的基本概念
1.1.3 影響電子元器件可靠性的因素分析
1.2 電子元器件可靠性設計的基本概念與基本要求
1.2.1 基本概念
1.2.2 重要性
1.2.3 基本要求
1.2.4 可靠性設計程序
1.3 電子元器件可靠性設計指標
1.3.1 穩(wěn)定性設計指標
1.3.2 極限性設計指標
1.3.3 產(chǎn)品的失效率、壽命或質(zhì)量等級指標
1.3.4 必須消除或控制的失效模式指標
1.4　電子元器件可靠性設計的基本內(nèi)容
1.4.1 功能方面的可靠性設計
1.4.2 結構方面的可靠性設計
1.4.3 工藝方面的可靠性設計
1.4.4 可靠性評價試驗設計
1.5 電子元器件失效分析的基本技術
1.5.1 失效分析基礎技術
1.5.2 失效信息統(tǒng)計分析的基本方法
1.6 電子元器件可靠性設計技術
1.6.1耐高、低溫設計技術
1.6.2 耐熱設計技術
1.6.3 耐電應力設計
1.6.4抗機械應力設計技術
1.6.5 穩(wěn)定性設計
1.6.6 三防設計技術
1.6.7抗輻射環(huán)境設計技術
1.6.8 控制低氣壓失效的可靠性設計
1.6.9 防誤操作設計技術
1.6.10 消除寄生元器件和潛在通路設計
1.6.11 最壞情況設計技術
1.6.12 優(yōu)化設計技術
1.7 電子元器件可靠性設計階段的可靠性控制技術
1.7.1 基本概念
1.7.2 控制的作用
1.7.3 控制內(nèi)容與方法
1.8小結
參考文獻
第2章單片集成電路可靠性設計
2.1 單片集成電路的類別和設計特點
2.1.1 類別
2.1.2 設計特點
2.2 單片集成電路可靠性設計的基本要求和主要內(nèi)容
2.2.1 基本要求
2.2.2 主要內(nèi)容
2.3 單片集成電路可靠性設計的基本技術
2.3.1 電性能穩(wěn)定性設計
2.3.2 輸出保護電路
2.3.3 輸入保護電路
2.4 單片集成電路版圖的可靠性設計技術
2.4.1 對稱性設計方法
……
第3章　混合集成電路可靠性設計與控制
第4章　半導體分立器件可靠性設計
第5章　連接器可靠性設計
第6章　繼電器可靠性設計
第7章　電容器可靠性設計
第8章　微特電機可靠性設計
第9章　聲表面波器件可靠性設計
后記