電子晶體學(xué)與圖像處理

第一篇 電子衍射
第1章 運(yùn)動學(xué)電子衍射理論
1.1 電子波
1.2 薛定諤方程和玻恩近似
1.3 散射波振幅
1.4 原子散射因子
1.5 無界和有界周期點(diǎn)陣對電子的衍射
1.5.1 點(diǎn)陣函數(shù)
1.5.2 無界s周期點(diǎn)陣對電子的衍射
1.5.3 有界s周期點(diǎn)陣對電子的衍射
1.6 晶體對電子的衍射和結(jié)構(gòu)因子
1.7 電子衍射幾何
1.7.1 倒易點(diǎn)陣
1.7.2 反射球
1.7.3 布拉格方程
1.8 電子衍射強(qiáng)度
1.8.1 嚴(yán)格滿足布拉格衍射
1.8.2 偏離布拉格衍射
第2章 動力學(xué)電子衍射理論
2.1 玻恩迭代方法
2.2 布洛赫波方法
2.2.1 貝特理論
2.2.2 色散面
2.2.3 雙束近似
2.2.4 衍射波強(qiáng)度
2.2.5 布洛赫波的通道效應(yīng)
2.3 散射矩陣?yán)碚?br />2.4 豪伊一惠蘭方程
2.5 物理光學(xué)方法
2.5.1 惠更斯原理和基爾霍夫公式
2.5.2 菲涅耳衍射
2.5.3 菲涅耳傳播因子
2.5.4 夫瑯禾費(fèi)衍射
2.5.5 多片理論
第3章 電子衍射花樣
3.1 單晶體的電子衍射花樣
3.1.1 電子衍射花樣的形成和一般特征
3.1.2 零階和高階勞厄帶
3.1.3 衍射斑形狀
3.1.4 禁阻衍射
3.1.5 晶面間距測定和指標(biāo)化
3.1.6 收集三維衍射數(shù)據(jù)和倒易點(diǎn)陣重構(gòu)
3.1.7 衍射花樣對稱性和衍射群測定
3.2 多晶體電子衍射花樣
3.3 織構(gòu)電子衍射花樣
3.4 菊池衍射花樣
3.4.1 菊池線的形成
3.4.2 菊池帶
3.4.3 菊池線的指標(biāo)化
3.4.4 菊池衍射花樣的應(yīng)用
3.5 會聚束電子衍射花樣
3.5.1 衍射花樣的形成和分類
3.5.2 零階和高階勞厄帶衍射
3.5.3 零階勞厄帶衍射中的寬條紋
3.5.4 高階勞厄帶線
第4章 晶體對稱性的會聚束電子衍射測定
4.1 倒易性原理
4.2 三維對稱元素導(dǎo)致的會聚束電子衍射花樣對稱性
4.3 31個(gè)會聚束電子衍射群
4.4 點(diǎn)群測定
4.5 空間群測定
第5章 電子衍射晶體結(jié)構(gòu)分析
5.1 嘗試法
5.2 帕特森方法
5.2.1 帕特森函數(shù)
5.2.2 帕特森圖
5.2.3 從帕特森圖推導(dǎo)晶體結(jié)構(gòu)
5.3 重原子法
5.4 直接法
5.4.1 單位結(jié)構(gòu)因子和歸一結(jié)構(gòu)因子
5.4.2 結(jié)構(gòu)因子關(guān)系的不等式
5.4.3 結(jié)構(gòu)不變量和半不變量
5.4.4 塞爾等式和符號關(guān)系式
5.4.5 一般相位關(guān)系式和正切等式
5.4.6 品質(zhì)因子
5.5 最大熵方法
5.5.1 信息論的最大熵原理
5.5.2 衍射相位的推導(dǎo)
5.6 溫度因子校正和結(jié)構(gòu)修正
5.6.1 溫度因子校正
5.6.2 傅里葉修正
5.6.3 最小二乘修正
第6章 結(jié)構(gòu)因子和電荷密度分布測定
6.1 精確測定結(jié)構(gòu)因子的方法和原理
6.1.1 臨界電壓法
6.1.2 菊池線交截法(HOLZ線交截法)
6.1.3 等厚條紋法
6.1.4 擺動曲線法
6.2 會聚束電子衍射技術(shù)的應(yīng)用
6.2.1 用會聚束電子衍射實(shí)現(xiàn)不同方法
6.2.2 溫度感生臨界電壓效應(yīng)
6.2.3 陰影像會聚束電子衍射技術(shù)
6.2.4 定量會聚束電子衍射技術(shù)的優(yōu)化算法
6.3 不同方法的比較
6.4 電荷密度分布測定舉例
6.4.1 Ni3Al合金
6.4.2 TiAl合金
第二篇 高分辨電子顯微學(xué)
第7章 成像原理
7.1 相位襯度電子顯微像
7.1.1 電子顯微像
7.1.2 點(diǎn)陣像和結(jié)構(gòu)像
7.2 電子與物體的相互作用
7.2.1 出射波與透射函數(shù)
7.2.2 相位物體
7.2.3 弱相位物體
7.2.4 物體的多片模型
7.2.5 贗弱相位物體
……
第8章 像的襯度和模擬像
第9章 模型法測定晶體結(jié)構(gòu)
第三篇 電子晶體學(xué)圖像處理
第10章 高分辨電子顯微像的圖像處理
第11章 像的解卷處理
第12章 相位擴(kuò)展與衍射強(qiáng)度校正
第13章 微小晶體結(jié)構(gòu)測定
第14章 原子分辨率晶體缺陷測定
附錄一 薛定諤方程的積分解
附錄二 傅里葉變換與卷積
附錄三 消光距離鈿（nm）（電子加速電壓為100 kV）
附錄四 消光規(guī)律與點(diǎn)陣類型及微觀對稱元素的關(guān)系
附錄五 平面群
附錄六 230個(gè)空間群的GM線規(guī)律表
附錄七 無公度調(diào)制結(jié)構(gòu)
索引