硬盤(pán)實(shí)戰(zhàn)維修從入門(mén)到精通

Chapter01 硬盤(pán)維修預(yù)備知識(shí)
1.1 硬盤(pán)的組成結(jié)構(gòu)
1.1.1 硬盤(pán)的物理結(jié)構(gòu)
1.1.2 硬盤(pán)的邏輯結(jié)構(gòu)
1.2 硬盤(pán)的工作原理
1.2.1 硬盤(pán)與溫徹斯特技術(shù)
1.2.2 硬盤(pán)的工作原理
1.2.3 硬盤(pán)的工作過(guò)程
1.3 硬盤(pán)的技術(shù)指標(biāo)及參數(shù)
1.3.1 容量
1.3.2 平均尋道時(shí)間
1.3.3 平均潛伏期
1.3.4 道至道時(shí)間
1.3.5 旋轉(zhuǎn)速度
1.3.6 全程訪(fǎng)問(wèn)時(shí)間
1.3.7 平均訪(fǎng)問(wèn)時(shí)間
1.3.8 最大內(nèi)部數(shù)據(jù)傳輸速率
1.3.9 最大外部數(shù)據(jù)傳輸速率
1.3.10 數(shù)據(jù)緩存
1.3.11 硬盤(pán)表面溫度
1.3.12 MTBF
1.3.13 傳輸模式
1.3.14 UltraATA133
1.3.15 P.1 ist（永久缺陷表）
1.3.16 G.1 ist（增長(zhǎng)缺陷表）
1.3.17 SMART
1.4 硬盤(pán)的類(lèi)型
1.4.1 IDE硬盤(pán)
1.4.2 SATA硬盤(pán)
1.4.3 SCSI硬盤(pán)
1.4.4 移動(dòng)硬盤(pán)
1.4.5 筆記本硬盤(pán)
1.4.6 微型硬盤(pán)
1.4.7 固體硬盤(pán)
1.5 本章小結(jié)
Chapter02 硬盤(pán)初始化與引導(dǎo)過(guò)程分析
2.1 硬盤(pán)初始化／低級(jí)格式化
2.1.1 硬盤(pán)低級(jí)格式化的概念
2.1.2 DM低級(jí)格式化的應(yīng)用
2.1.3 DM低級(jí)格式化硬盤(pán)案例
2.2 硬盤(pán)邏輯分區(qū)概述
2.2.1 分區(qū)格式
2.2.2 硬盤(pán)分區(qū)的種類(lèi)
2.3 常用分區(qū)軟件對(duì)比
2.4 硬盤(pán)分區(qū)方法及實(shí)戰(zhàn)
2.4.1 Windows2000／XP／2003／Vista安裝程序分區(qū)方法
2.4.2 Windows2000／XP／2003Nista系統(tǒng)中的“磁盤(pán)管理”工具分區(qū)方法
2.4.3 FDISK分區(qū)方法
2.4.4.FDISK分區(qū)實(shí)戰(zhàn)
2.4.5 PartitionMagic分區(qū)方法
2.4.6 PartitionMagic分區(qū)實(shí)戰(zhàn)
2.5 硬盤(pán)高級(jí)格式化
2.6 硬盤(pán)引導(dǎo)過(guò)程分析
2.6.1 系統(tǒng)啟動(dòng)過(guò)程
2.6.2 硬盤(pán)引導(dǎo)流程
2.6.3 硬盤(pán)在引導(dǎo)過(guò)程中常見(jiàn)的出錯(cuò)信息
2.7 本章小結(jié)
Chapter03 硬盤(pán)主要元器件檢測(cè)與維修
3.1 電子電路重要概念
3.1.1 電流
3.1.2 電壓
3.1.3 電阻
3.1.4 歐姆定律
3.1.5 電源
3.1.6 負(fù)載
3.1.7 電路
3.1.8 電動(dòng)勢(shì)
3.1.9 周期
3.1.10 頻率
3.1.11 高電平和低電平
3.1.12 正跳變和負(fù)跳變，上升沿和下降沿
3.1.13 脈沖信號(hào)
3.1.14 斷路和短路
3.1.15 模擬電路與數(shù)字電路
3.2 電阻器檢測(cè)與維修方法
3.2.1 電阻器在電路中的符號(hào)
3.2.2 電阻器的分類(lèi)
3.2.3 電阻器的標(biāo)識(shí)方法
3.2.4 電阻器好壞檢測(cè)方法
3.2.5 用指針萬(wàn)用表檢測(cè)電阻
3.2.6 用數(shù)字萬(wàn)用表檢測(cè)電阻
3.2.7 電阻器代換方法
3.3 電容器檢測(cè)與維修方法
3.3.1 電容器的功能
3.3.2 電容器在電路中的符號(hào)
3.3.3 電容器的分類(lèi)
3.3.4 電容器的標(biāo)識(shí)方法
3.3.5 用指針式萬(wàn)用表檢測(cè)電容器的好壞
3.3.6 用數(shù)字萬(wàn)用表檢測(cè)電容器的好壞
3.3.7 電容器的代換方法
3.4 電感器檢測(cè)與維修方法
3.4.1 電感器的功能
3.4.2 電感器在電路中的符號(hào)
3.4.3 電感器的分類(lèi)
3.4.4 電感器的標(biāo)識(shí)方法
3.4.5 用指針萬(wàn)用表檢測(cè)電感器
3.4.6 用數(shù)字萬(wàn)用表檢測(cè)電感器
3.4.7 電感器的代換
3.5 晶體二極管檢測(cè)與維修方法
3.5.1 半導(dǎo)體概念及種類(lèi)
3.5.2 二極管的分類(lèi)
3.5.3 二極管的符號(hào)
3.5.4 常規(guī)二極管好壞檢測(cè)方法
3.5.5 光電二極管的檢測(cè)方法
3.5.6 晶體二極管的代換方法
3.6 晶體三極管檢測(cè)與維修方法
3.6.1 三極管的三種狀態(tài)
3.6.2 三極管的分類(lèi)
3.6.3 三極管的符號(hào)
3.6.4 三極管類(lèi)型及電極判定
3.6.5 識(shí)別鍺管和硅管
3.6.6 三極管好壞檢測(cè)方法
3.6.7 三極管的代換方法
3.7 場(chǎng)效應(yīng)管檢測(cè)與維修方法
3.7.1 場(chǎng)效應(yīng)管的分類(lèi)
3.7.2 場(chǎng)效應(yīng)管的電路符號(hào)
3.7.3 判別場(chǎng)效應(yīng)管的極性
3.7.4 區(qū)分N溝道和P溝道場(chǎng)效應(yīng)管
3.7.5 用指針萬(wàn)用表判斷場(chǎng)效應(yīng)管好壞
3.7.6 用數(shù)字萬(wàn)用表判斷場(chǎng)效應(yīng)管好壞
3.7.7 場(chǎng)效應(yīng)管的代換方法
3.8 晶振檢測(cè)與維修方法
3.9 集成穩(wěn)壓器檢測(cè)與維修方法
3.9.1 集成穩(wěn)壓器的功能
3.9.2 集成穩(wěn)壓器的分類(lèi)與電路符號(hào)
3.9.3 常用集成穩(wěn)壓器
3.9.4 集成電路故障分析
3.9.5 集成電路好壞檢測(cè)方法
3.9.6 集成穩(wěn)壓器的檢測(cè)與好壞判斷
3.10 集成運(yùn)算放大器檢測(cè)與維修方法
3.10.1 集成運(yùn)算放大器的功能
3.10.2 集成運(yùn)算放大器的分類(lèi)及電路符號(hào)
3.10.3 常用集成運(yùn)算放大器
3.10.4 集成運(yùn)算放大器的檢測(cè)與好壞判斷
3.11 數(shù)字集成電路檢測(cè)與維修方法
……
Chapter04 硬盤(pán)常用維修工具使用方法
Chapter05 硬盤(pán)常見(jiàn)故障維修方法
Chapter06 硬盤(pán)軟故障維修技術(shù)
Chapter07 硬盤(pán)電路板故障維修方法
Chapter08 硬盤(pán)電路板維修實(shí)戰(zhàn)
Chapter09 硬盤(pán)盤(pán)體故障維修技術(shù)
Chapter10 PC-3000維修硬盤(pán)實(shí)戰(zhàn)
Chapter11 效率源維修硬盤(pán)實(shí)戰(zhàn)
Chapter12 MHDD維修硬盤(pán)實(shí)戰(zhàn)
Chapter13 硬盤(pán)數(shù)據(jù)恢復(fù)原理與步驟
Chapter14 硬盤(pán)數(shù)據(jù)恢復(fù)方法及實(shí)戰(zhàn)