專利測度與評價指標(biāo)體系研究

定　價：￥35.00

作　者：	葉春明，劉長平著
出版社：	知識產(chǎn)權(quán)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	法律民法知識產(chǎn)權(quán)

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ISBN：	9787513018937	出版時間：	2013-05-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數(shù)：	231	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡介

　　隨著國際競爭的加劇和知識經(jīng)濟(jì)的興起，知識產(chǎn)權(quán)戰(zhàn)略己成為我國經(jīng)濟(jì)社會發(fā)展的一項(xiàng)基本戰(zhàn)略，而專利的測度、評價與保護(hù)是實(shí)現(xiàn)該戰(zhàn)略的重要環(huán)節(jié)。在當(dāng)前形勢下，建立一個科學(xué)、全面、實(shí)用的專利評價指標(biāo)體系和評價方法顯得非常必要和緊迫?！秾＠麥y度與評價指標(biāo)體系研究》在對專利測度與專利評價的理論研究基礎(chǔ)上，對比分析了發(fā)達(dá)國家以及我國現(xiàn)有的專利評價指標(biāo)體系，依據(jù)評價指標(biāo)體系設(shè)計原則，結(jié)合技術(shù)創(chuàng)新的發(fā)展趨勢，構(gòu)建出包含區(qū)域、高校（研究所）、企業(yè)不同層次的專利綜合評價指標(biāo)體系、專利保護(hù)水平評價指標(biāo)體系和基于證券化的專利價值評估指標(biāo)體系，并利用基于集成各種評價模型的綜合評價方法，對選取的不同行業(yè)的樣本企業(yè)或高校進(jìn)行技術(shù)創(chuàng)新與專利評價的實(shí)證分析。最后，針對專利綜合實(shí)力對經(jīng)濟(jì)發(fā)展的貢獻(xiàn)進(jìn)行了實(shí)證研究，揭示出專利綜合實(shí)力與經(jīng)濟(jì)增長的內(nèi)在關(guān)系以及對經(jīng)濟(jì)發(fā)展的促進(jìn)作用。

作者簡介

　　葉春明，安徽宣城人，博士，教授，上海理工大學(xué)博士生導(dǎo)師。中國系統(tǒng)工程學(xué)會教育系統(tǒng)工程委員會理事，上海市系統(tǒng)工程學(xué)會理事，上海市工業(yè)工程學(xué)會秘書長，2008年寶鋼教師獎獲得者，國家知識產(chǎn)權(quán)專家?guī)焓着脒x專家。曾以第三成員身份獲得部級科技進(jìn)步一等獎一項(xiàng)，以團(tuán)隊(duì)成員身份獲得部級科技進(jìn)步二等獎一項(xiàng)，以主持人身份獲得市級教學(xué)成果三等獎兩項(xiàng)。近年來主持了國家自然科學(xué)基金項(xiàng)目（71271138），科技部重大專項(xiàng)合作課題（2009ZX07419-004），教育部高校博士學(xué)科點(diǎn)專項(xiàng)科研基金項(xiàng)目（20093120110008），教育部人文社會科學(xué)規(guī)劃基金項(xiàng)目（10YJA630187），上海市教育委員會科研創(chuàng)新重點(diǎn)項(xiàng)目（12ZS133），上海市哲學(xué)社會科學(xué)規(guī)劃課題（2008BJB036）等?！断到y(tǒng)工程學(xué)報》、《計算機(jī)集成制造系統(tǒng)》、《工業(yè)工程與管理》等期刊審稿專家。目前在國內(nèi)外發(fā)表論文一百八十多篇，其中三十余篇被三大檢索收錄。劉長平，河南洛陽人，講師，上海理工大學(xué)博士研究生。研究領(lǐng)域?yàn)楣芾砜茖W(xué)與工程，目前發(fā)表論文十余篇，主持市廳級課題兩項(xiàng)，參與完成各種課題十余項(xiàng)。

圖書目錄

第一章緒論 1．1 研究意義 1．2 研究內(nèi)容與方法第二章國內(nèi)外相關(guān)研究 2．1 國外研究現(xiàn)狀 2．1．1 日本知識產(chǎn)權(quán)管理評估指標(biāo)體系 2．1．2 美國CHI Research專利評價指標(biāo) 2．1．3 瑞士《洛桑年鑒》中的專利評價指標(biāo) 2．2 國內(nèi)研究現(xiàn)狀 2．2．1 區(qū)域方面 2．2．2 企業(yè)方面 2．2．3 高校(研究所)方面 2．2．4 知識產(chǎn)權(quán)保護(hù)水平評價及其他方面第三章專利綜合評價指標(biāo)體系 3．1 專利概述 3．2 構(gòu)建專利綜合評價指標(biāo)體系的原則和目標(biāo) 3．2．1 構(gòu)建評價指標(biāo)體系遵循的原則 3．2．2 構(gòu)建評價指標(biāo)體系的目標(biāo) 3．3 區(qū)域?qū)＠u價指標(biāo)體系 3．3．1 區(qū)域?qū)＠u價指標(biāo)體系構(gòu)建 3．3．2 區(qū)域?qū)＠u價指標(biāo)體系解析 3．4 企業(yè)專利評價指標(biāo)體系 3．4．1 企業(yè)專利評價指標(biāo)體系構(gòu)建 3．4．2 企業(yè)專利評價指標(biāo)體系解析 3．5 高校專利評價指標(biāo)體系 3．5．1 高校專利評價指標(biāo)體系構(gòu)建 3．5．2 高校專利評價指標(biāo)體系解析 3．6 專利保護(hù)水平評價指標(biāo)體系 3．6．1 區(qū)域?qū)＠Ｗo(hù)水平評價指標(biāo)體系 3．6．2 高技術(shù)企業(yè)專利保護(hù)水平評價指標(biāo)體系第四章基于證券化的專利價值評估指標(biāo)體系 4．1 知識產(chǎn)權(quán)價值評估的基本方法和影響因素 4．1．1 成本法 4．1．2 收益法 4．1．3 市場法 4．1．4 知識產(chǎn)權(quán)價值評估影響因素 4．2 專利證券化的依據(jù) 4．2．1 資產(chǎn)證券化的概念 4．2．2 專利證券化的理論依據(jù) 4．3 專利證券化的過程 4．3．1 專利證券化融資模式的特殊性 4．3．2 專利證券化交易原理與操作流程 4．4 專利證券化價值評估指標(biāo)體系 4．4．1 專利證券化價值評估的特殊性 4．4．2 專利證券化價值評估的影響因素 4．4．3 專利證券化價值評估指標(biāo)體系的構(gòu)建第五章專利狀況綜合評價及實(shí)證研究 5．1區(qū)域?qū)＠麪顩r綜合評價 5．1．1 主成分分析法原理 5．1．2 基于主成分分析的區(qū)域?qū)＠麪顩r綜合評價 5．2 區(qū)域?qū)＠Ｗo(hù)水平綜合評價 5．2．1 數(shù)據(jù)來源 5．2．2 基于主成分分析的區(qū)域?qū)＠Ｗo(hù)水平綜合評價 5．3 企業(yè)專利狀況綜合評價 5．3．1 層次分析法原理 5．3．2 模糊綜合評價法原理 5．3．3 基于模糊綜合評價的企業(yè)專利狀況綜合評價 5．4 高校專利狀況綜合評價 5．4．1 指標(biāo)體系與數(shù)據(jù)來源 5．4．2 基于模糊綜合評價的高校專利狀況綜合評價 5．5 專利證券化價值評估研究 5．5．1 基于Tropsis的改進(jìn)灰色關(guān)聯(lián)度法 5．5．2 基于Topsis改進(jìn)灰色關(guān)聯(lián)度法的專利證券化價值評估第六章專利綜合實(shí)力對經(jīng)濟(jì)發(fā)展的貢獻(xiàn)研究 6．1 專利綜合實(shí)力與經(jīng)濟(jì)發(fā)展的相關(guān)研究 6．1．1 專利綜合實(shí)力的界定與影響因素 6．1．2 專利綜合實(shí)力與經(jīng)濟(jì)發(fā)展的內(nèi)在作用機(jī)制 6．2專利綜合實(shí)力測度指標(biāo)體系 6．2．1 專利綜合實(shí)力測度指標(biāo)體系構(gòu)建 6．2．2 評價指標(biāo)解析 6．3 專利綜合實(shí)力測度實(shí)證分析 6．3．1 指標(biāo)權(quán)重確定 6．3．2 中部地區(qū)專利綜合實(shí)力測度及對比 6．4 專利綜合實(shí)力與經(jīng)濟(jì)增長內(nèi)在關(guān)系實(shí)證研究 6．4．1 中部地區(qū)專利綜合實(shí)力概述 6．4．2 中部地區(qū)經(jīng)濟(jì)發(fā)展?fàn)顩r概述 6．4．3 研究方法選取 6．4．4 研究假說 6．4．5 全模型構(gòu)建 6．4．6 模型估計 6．5 結(jié)論與建議參考文獻(xiàn) 附錄A 企業(yè)專利評價專家咨詢表附錄B 專利證券化價值評估調(diào)查問卷后記