Lattice可編程器件測試技術(shù)

定　價：￥30.00

作　者：	吳丹，石堅，周紅著
出版社：	西北工業(yè)大學(xué)出版社
叢編項：
標(biāo)　簽：	暫缺

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ISBN：	9787561242537	出版時間：	2015-01-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數(shù)：		字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡介

《Lattice可編程器件測試技術(shù)》從工程實際應(yīng)用出發(fā)，對Lattice可編程器件自動編程與測試的關(guān)鍵技術(shù)進行了分析和討論。主要內(nèi)容包括針對可編程單元測試的編程資源測試技術(shù)、基于可測性設(shè)計的邏輯資源測試技術(shù)、針對邏輯電路測試向量生成的功能測試生成算法、保證測試向量和測試程序開發(fā)效率和質(zhì)量的可編程器件測試技術(shù)規(guī)范、研究緒論及結(jié)果分析等。
　　《Lattice可編程器件測試技術(shù)》可供相關(guān)工程技術(shù)人員、科研人員參考，也可作為高等學(xué)校有關(guān)專業(yè)教材或教學(xué)參考書。