X射線多晶衍射數(shù)據(jù)Rietveld精修及GSAS軟件入門

定　價：￥38.60

作　者：	鄭振環(huán)，李強著
出版社：	中國建材工業(yè)出版社
叢編項：
標　簽：	計算機/網(wǎng)絡行業(yè)軟件及應用

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ISBN：	9787516014561	出版時間：	2016-06-01	包裝：	平裝
開本：	16	頁數(shù)：	120	字數(shù)：

內容簡介

　　Rietveld法全譜擬合已成為X射線多晶衍射修正晶體結構的重要方法。本書共分為四章，側重從操作示例介紹Rietveld法的基本原理和精修過程。第1章簡要介紹Rietveld法的發(fā)展概況和基本原理。第2章介紹精修軟件EXPGUI-GSAS的安裝和使用界面。第3章介紹Rietveld法X射線多晶衍射數(shù)據(jù)的實驗測試，并以簡單例子演示EXPGUI-GSAS精修過程以及結果的提取和圖譜繪圖。第4章給出了三個提高練習示例，包括創(chuàng)建儀器參數(shù)文件、含非晶混合物的定量分析以及占位修正等。

作者簡介

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圖書目錄

第1章　Rietveld法結構精修
　1.1　Rietveld法結構精修發(fā)展概況
　1.2　Rietveld法基本原理
　1.3　參數(shù)修正順序與結果判據(jù)
　　1.3.1　參數(shù)修正的順序
　　1.3.2　精修的數(shù)值判據(jù)
　　1.3.3　精修的圖示判斷
　1.4　精修過程出現(xiàn)的問題和對策
　1.5　Rietveld法結構精修的應用
　　1.5.1　修正晶體結構
　　1.5.2　相變研究和點陣常數(shù)測定
　　1.5.3　物相定量分析
　　1.5.4　晶粒尺寸和微應變測定
第2章　EXPGUI-GSAS軟件安裝與界面介紹
　2.1　GSAS軟件簡介
　2.2　EXPGUI-GSAS軟件的安裝
　2.3　EXPGUI-GSAS軟件界面介紹
　　2.3.1　菜單欄
　　2.3.2　選項卡界面
　　2.3.3　EXPGUI幫助內容
第3章　EXPGUI-GSAS結構精修起步
　3.1　精修前的準備工作
　　3.1.1　衍射數(shù)據(jù)的測定
　　3.1.2　衍射數(shù)據(jù)的轉換
　　3.1.3　初始結構的獲取
　3.2　EXPGUI精修簡單示例
　　3.2.1　生成EXP文件
　　3.2.2　精修過程
　　3.2.3　常見問題
　3.3　精修結果提取與繪圖
　　3.3.1　精修結果提取
　　3.3.2　精修圖譜繪圖
第4章　EXPGUI-GSAS提高練習
　4.1　儀器參數(shù)文件的建立
　　4.1.1　基本知識
　　4.1.2　操作過程
　4.2　物相（含非晶）定量分析
　　4.2.1　基本原理
　　4.2.2　衍射數(shù)據(jù)測試
　　4.2.3　精修過程
　4.3　Le Bail法擬合以及約束的使用
　　4.3.1　問題描述
　　4.3.2　精修過程
參考文獻