典型物聯(lián)網(wǎng)環(huán)境下RFID防碰撞及動(dòng)態(tài)測(cè)試關(guān)鍵技術(shù)：理論與實(shí)踐

前言
第1章 RFID防碰撞及動(dòng)態(tài)測(cè)試關(guān)鍵技術(shù)研究概述
1．1 RFID技術(shù)的起源與發(fā)展
1．2 物聯(lián)網(wǎng)與RFID技術(shù)
1．2．1 物聯(lián)網(wǎng)的基本框架
1．2．2 RFID系統(tǒng)的基本結(jié)構(gòu)
1．2．3 RFID系統(tǒng)的基本原理
1．2．4 物聯(lián)網(wǎng)與RFID系統(tǒng)的應(yīng)用
1．3 RFID系統(tǒng)防碰撞技術(shù)
1．3．1 信道與信道容量
1．3．2 軟件防碰撞
1．3．3 物理防碰撞
1．4 RFID系統(tǒng)動(dòng)態(tài)測(cè)試技術(shù)
1．4．1 RFID系統(tǒng)測(cè)試的主要內(nèi)容
1．4．2 RFID測(cè)試技術(shù)國(guó)內(nèi)外研究進(jìn)展
1．4．3 RFID系統(tǒng)動(dòng)態(tài)測(cè)試的流程
1．4．4 RFID系統(tǒng)動(dòng)態(tài)測(cè)試方法與實(shí)現(xiàn)
1．5 本章小結(jié)
第2章 低信噪比環(huán)境下超高頻RFID系統(tǒng)建模與抗干擾研究
2．1 RFID系統(tǒng)典型信號(hào)參數(shù)建模和通信系統(tǒng)仿真研究
2．1．1 室內(nèi)傳播模型
2．1．2 自由空間傳播模型
2．1．3 RFID網(wǎng)絡(luò)模型
2．1．4 RFID標(biāo)簽通信建模
2．1．5 AWGN信道下系統(tǒng)通信性能仿真
2．2 RFID信號(hào)在瑞利信道下的仿真
2．2．1 瑞利衰落信道仿真
2．2．2 瑞利衰落信道下系統(tǒng)通信性能仿真
2．2．3 RFID信號(hào)在瑞利信道下的仿真
2．3 OFDM系統(tǒng)用于RFID信號(hào)的瑞利衰落信道
2．3．1 OFDM系統(tǒng)定義
2．3．2 OFDM系統(tǒng)用于RFID信號(hào)瑞利衰落的仿真
2．4 基于CRB的RFID-MIMO系統(tǒng)多標(biāo)簽分布對(duì)識(shí)別性能影響的研究
2．4．1 信道模型
2．4．2 計(jì)算機(jī)仿真與分析
2．5 本章小結(jié)
第3章 RFID多標(biāo)簽防碰撞及最優(yōu)分布性能檢測(cè)研究
3．1 低信噪比條件下RFID防碰撞評(píng)估與檢測(cè)研究
3．1．1 RFID系統(tǒng)碰撞的基本概念
3．1．2 RFID系統(tǒng)防碰撞的概率模型
3．1．3 碰撞檢測(cè)中的關(guān)鍵參數(shù)
3．1．4 RFID系統(tǒng)標(biāo)簽碰撞過程的泊松分布模型
3．1．5 RFID系統(tǒng)標(biāo)簽碰撞過程的二項(xiàng)分布模型
3．2 基于Fisher信息矩陣的多標(biāo)簽最優(yōu)分布
3．2．1 多標(biāo)簽系統(tǒng)識(shí)讀原理
3．2．2 最優(yōu)多標(biāo)簽幾何拓?fù)涞臄?shù)學(xué)基礎(chǔ)
3，2．3 最優(yōu)幾何分布理論模型
3．2．4 標(biāo)簽數(shù)目N=2的幾何分布圖形
3．2．5 標(biāo)簽數(shù)目N=3的幾何分布圖形
3．2．6 標(biāo)簽數(shù)目N=5的幾何分布圖形
3．3 多標(biāo)簽動(dòng)態(tài)幾何模式研究
3．3．1 理論推導(dǎo)
3．3．2 系統(tǒng)仿真與分析
3．3．3 目標(biāo)沿不同路徑勻速運(yùn)動(dòng)
3．3．4 目標(biāo)沿不同路徑變速運(yùn)動(dòng)
3．4 RFID多標(biāo)簽檢測(cè)中有偏估計(jì)的不確定度分析
3．4．1 非隨機(jī)矢量函數(shù)估計(jì)的Cramer-Rao界
3．4．2 單標(biāo)簽識(shí)讀距離的有偏估計(jì)
3．4．3 多標(biāo)簽最優(yōu)化位置的有偏估計(jì)
3．5 本章小結(jié)
第4章 基于光電傳感的RFID動(dòng)態(tài)檢測(cè)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)
4．1 RFID系統(tǒng)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)與比較分析
4．1．1 ISO／IEC18000系列標(biāo)準(zhǔn)
4．1．2 EPCglobal系列標(biāo)準(zhǔn)
4．1．3 國(guó)內(nèi)RFID測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
4．2 單品級(jí)RFID測(cè)試系統(tǒng)
4．2．1 系統(tǒng)總體框圖
4．2．2 激光測(cè)距模塊
4．2．3 紅外線計(jì)數(shù)傳感器模塊
4．2．4 射頻識(shí)別模塊
4．2．5 綜合功能軟件設(shè)計(jì)
4．2．6 實(shí)驗(yàn)平臺(tái)搭建
4．3 托盤級(jí)RFID測(cè)試系統(tǒng)
4．3．1 托盤級(jí)RFID檢測(cè)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)
4．3．2 測(cè)試流程
4．3．3 軟件部分架構(gòu)
4．3．4 軟件系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)流程
4．4 包裝級(jí)RFID測(cè)試系統(tǒng)
4．4．1 標(biāo)簽應(yīng)用性能動(dòng)態(tài)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)原理
4．4．2 標(biāo)簽應(yīng)用性能動(dòng)態(tài)測(cè)試方法
4．4．3 讀寫器操作
4．4．4 RFID在線檢測(cè)系統(tǒng)總體結(jié)構(gòu)
4．4．5 RFID系統(tǒng)在線檢測(cè)平臺(tái)控制子系統(tǒng)部分
4．4．6 量值溯源
4．4．7 RFID識(shí)讀距離間接測(cè)距算法設(shè)計(jì)
4．5 多材質(zhì)RFID動(dòng)態(tài)檢測(cè)系統(tǒng)
4．5．1 RFID標(biāo)簽多參數(shù)動(dòng)態(tài)檢測(cè)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)
4．5．2 測(cè)試流程
4，5．3 系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)流程
4．5．4 單標(biāo)簽性能測(cè)試實(shí)驗(yàn)
4．5．5 多標(biāo)簽性能測(cè)試實(shí)驗(yàn)
4．6 特殊非標(biāo)RFID標(biāo)簽空中識(shí)別距離檢測(cè)
4．6．1 SAWRFID標(biāo)簽
4．6．2 SAWRFID系統(tǒng)原理及相應(yīng)檢測(cè)方案設(shè)計(jì)
4．6．3 信號(hào)處理
4．6．4 檢測(cè)結(jié)果分析
4．7 基于識(shí)讀距離測(cè)量的RFID標(biāo)簽方向圖測(cè)試系統(tǒng)
4．7．1 測(cè)試方案
4．7．2 驗(yàn)證結(jié)果分析
4．8 用于RFID標(biāo)簽測(cè)試的溫度控制系統(tǒng)
4．8．1 系統(tǒng)結(jié)構(gòu)
4．8．2 測(cè)試流程
4．9 本章小結(jié)
第5章 物聯(lián)網(wǎng)環(huán)境下RFID動(dòng)態(tài)檢測(cè)的半物理實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證研究
5．1 金屬對(duì)RFID識(shí)讀性能影響的研究
5．1．1 理論分析
5．1．2 金屬與標(biāo)簽距離對(duì)RSSI和RFID讀取次數(shù)的影響
5．1．3 金屬與標(biāo)簽距離對(duì)RFID識(shí)讀距離的影響
5．1．4 結(jié)果討論與分析
5．2 液體對(duì)RFID識(shí)讀性能影響的研究
5．2．1 理論分析
5．2．2 實(shí)驗(yàn)步驟
5．2．3 結(jié)果分析
5．3 標(biāo)簽運(yùn)動(dòng)速度對(duì)RFID識(shí)讀性能影響的研究
5．3．1 理論分析
5．3．2 實(shí)驗(yàn)測(cè)試及應(yīng)用
5．3．3 實(shí)驗(yàn)測(cè)試速度對(duì)讀取次數(shù)的影響
5．4 天線對(duì)RFID識(shí)讀性能影響的研究
5．4．1 天線的極化
5．4．2 天線的輸入阻抗
5．4．3 天線彎曲對(duì)RFID識(shí)讀性能的影響
5．4．4 實(shí)驗(yàn)測(cè)試標(biāo)簽位置對(duì)讀取次數(shù)和RSSI的影響
5．5 RFID系統(tǒng)識(shí)別距離的影響因素
5．5．1 標(biāo)簽天線及芯片接收功率
5．5．2 RCS與識(shí)別距離的關(guān)系
5．5．3 品質(zhì)因數(shù)Q與識(shí)別距離的關(guān)系
5．5．4 工作頻率與識(shí)別距離的關(guān)系
5．6 RFID多標(biāo)簽系統(tǒng)最優(yōu)幾何分布圖形仿真計(jì)算與實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證
5．6．1 Fisher信息矩陣分布分析
5．6．2 實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證
5．7 本章小結(jié)
第6章 基于RFID的矩陣分析方法研究
6．1 基于RFID檢測(cè)工業(yè)危險(xiǎn)區(qū)域的矩陣分析方法研究
6．1．1 工業(yè)安全的重要性
6．1．2 利用矩陣分析方法測(cè)試工業(yè)危險(xiǎn)區(qū)域
6．1．3 實(shí)驗(yàn)結(jié)果
6．1．4 實(shí)驗(yàn)結(jié)論
6．2 基于矩陣分析的RFID標(biāo)簽分布優(yōu)選配置方法
6．2．1 標(biāo)簽信號(hào)強(qiáng)度檢測(cè)流程
6．2．2 實(shí)驗(yàn)結(jié)果分析
6．3 本章小結(jié)
參考文獻(xiàn)