基于計(jì)算機(jī)平臺(tái)和系統(tǒng)的電源完整性設(shè)計(jì)原理和分析

譯者序
原書序言
原書前言
致謝
第1章電源完整性介紹1
1.1電源完整性的定義1
1.2電源完整性發(fā)展的歷史回顧2
1.3第一原理分析5
1.3.1解決電源分布問題的步驟6
1.3.2解析和數(shù)值方法的局限7
1.4本書所涉及的內(nèi)容范圍11
參考文獻(xiàn)12
第2章電源轉(zhuǎn)換平臺(tái)介紹13
2.1電源分布系統(tǒng)13
2.1.1集中式和分布式的分布系統(tǒng)14
2.1.2在系統(tǒng)電源路徑的靜態(tài)損耗15
2.2DC-DC電源轉(zhuǎn)換平臺(tái)17
2.2.1常用的轉(zhuǎn)換器類型18
2.2.2線性調(diào)節(jié)器18
2.2.3降壓轉(zhuǎn)換器20
2.2.4LC濾波器的工作原理25
2.2.5電源開關(guān)基礎(chǔ)27
2.2.6控制器31
2.2.7電感33
2.2.8耦合電感35
2.2.9多相降壓轉(zhuǎn)換器36
2.2.10抽頭電感降壓轉(zhuǎn)換器37
2.3布局和噪聲考慮39
2.4小結(jié)40
習(xí)題40
參考文獻(xiàn)41
第3章電磁場(chǎng)與電路表示方法的回顧43
3.1矢量和標(biāo)量44
3.1.1坐標(biāo)系統(tǒng)45
3.1.2矢量運(yùn)算和矢量微積分46
3.2靜電場(chǎng)48
3.2.1靜電學(xué)48
3.2.2靜磁學(xué)54
3.2.3電導(dǎo)和電阻57
3.3麥克斯韋方程59
3.3.1波動(dòng)方程60
3.3.2無損和有損介質(zhì)61
3.4實(shí)用和簡(jiǎn)單的電路提取62
3.4.1電源平面的電感63
3.4.2在空間兩根圓形導(dǎo)線的電感64
3.4.3在一個(gè)電源平面的兩個(gè)通孔之間的電阻65
3.4.4公式適用性說明66
3.5小結(jié)67
習(xí)題67
參考文獻(xiàn)68
基于計(jì)算機(jī)平臺(tái)和系統(tǒng)的電源完整性設(shè)計(jì)原理和分析
目錄
第4章電源分布網(wǎng)絡(luò)70
4.1電源分布網(wǎng)絡(luò)概述70
4.2PDN元件75
4.2.1PCB網(wǎng)絡(luò)75
4.2.2插槽分布82
4.2.3接觸電阻83
4.2.4封裝分布86
4.2.5去耦結(jié)構(gòu)基礎(chǔ)和電容90
4.3阻抗分布分析94
4.3.1通過第一原理分析一個(gè)PDN結(jié)構(gòu)94
4.3.2一個(gè)完整的PDN結(jié)構(gòu)分析99
4.4小結(jié)102
習(xí)題103
參考文獻(xiàn)104
第5章電源完整性的時(shí)域和邊界分析106
5.1源和負(fù)載建模106
5.1.1源的表示方法106
5.1.2負(fù)載的表示方法118
5.2時(shí)變系統(tǒng)123
5.2.1電壓總線下降的邊界條件123
5.2.2電壓總線下降的邊界分析125
5.3阻抗/負(fù)載的邊界分析128
5.4小結(jié)134
習(xí)題134
參考文獻(xiàn)135
第6章電源完整性的系統(tǒng)考慮136
6.1電源負(fù)載線的基本原理136
6.1.1負(fù)載線137
6.1.2容差帶和電壓保護(hù)帶139
6.2電源完整性中噪聲來源的考慮146
6.2.1自發(fā)產(chǎn)生的電源總線噪聲147
6.2.2耦合的電源總線噪聲151
6.2.3同步開關(guān)噪聲157
6.3電源降噪技術(shù)159
6.4電源完整性的EMI考慮161
6.5系統(tǒng)測(cè)量中的電源完整性PDN166
6.6小結(jié)168
習(xí)題168
參考文獻(xiàn)169
第7章硅電源分布與分析171
7.1硅和封裝的電源完整性171
7.1.1用于電源分布的硅互連174
7.1.2電阻和電流密度的考慮177
7.1.3對(duì)封裝的VR系統(tǒng)的PDN考慮183
7.2硅和封裝的電源傳輸188
7.2.1封裝的電源傳輸189
7.2.2封裝和硅電源傳輸?shù)臋?quán)衡189
7.3片上去耦192
7.4硅電源中的前沿話題196
7.5小結(jié)198
習(xí)題199
參考文獻(xiàn)199
附錄200
附錄A常用電感幾何形狀列表200
參考文獻(xiàn)202
附錄B球面坐標(biāo)系統(tǒng)203
參考文獻(xiàn)203
附錄C矢量公式和恒等式204