數(shù)字電子技術(shù)實驗及Multisim仿真應(yīng)用

定　價：￥39.00

作　者：	楊玉強，劉允峰，馬敬敏編
出版社：	科學(xué)出版社
叢編項：	普通高等教育專業(yè)基礎(chǔ)課系列教材
標　簽：	暫缺

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ISBN：	9787030644039	出版時間：	2020-02-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數(shù)：	213	字數(shù)：

內(nèi)容簡介

　　《數(shù)字電子技術(shù)實驗及Multisim仿真應(yīng)用/普通高等教育專業(yè)基礎(chǔ)課系列教材》根據(jù)數(shù)字電子技術(shù)課程教學(xué)大綱及教學(xué)基本要求編寫而成。全書系統(tǒng)地介紹了數(shù)字電子技術(shù)實驗的基本方法，實驗內(nèi)容按照由淺入深、循序漸進、逐步提高的原則安排，按照學(xué)生能力形成的不同階段，分為基礎(chǔ)實驗、設(shè)計及綜合實驗、Multisim仿真應(yīng)用三部分，將硬件實驗方式向多元化、現(xiàn)代化實驗方式轉(zhuǎn)移。該書在內(nèi)容組織上，將實驗測試結(jié)果與理論分析結(jié)果以列表的形式對比，強化理論與實踐并重、理論指導(dǎo)實踐、實踐驗證理論，增強了實驗過程的可操作性。該書可作為高等院校電子信息工程、計算機科學(xué)與技術(shù)、物聯(lián)網(wǎng)工程、機電工程、自動控制、軟件技術(shù)等專業(yè)學(xué)生的數(shù)字電子技術(shù)實驗教材，還可供高等院校教師、研究生及從事數(shù)字電子技術(shù)研究的科技人員參考。

作者簡介

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圖書目錄

緒論
第一部分基礎(chǔ)實驗
實驗1 集成門電路邏輯功能測試
實驗2 TTL門電路參數(shù)測試
實驗3 TS門和OC門及應(yīng)用
實驗4 SSI組合邏輯電路
實驗5 譯碼器和數(shù)據(jù)選擇器及其擴展應(yīng)用
實驗6 MSI組合邏輯電路
實驗7 觸發(fā)器邏輯功能測試
實驗8 SSI時序邏輯電路
實驗9 集成計數(shù)器及寄存器
實驗10 555定時器及應(yīng)用電路
實驗11 半導(dǎo)體隨機存取存儲器
實驗12 D/A與A/D轉(zhuǎn)換
第二部分設(shè)計及綜合實驗
實驗1 順序脈沖發(fā)生器電路設(shè)計
實驗2 移位寄存器型彩燈控制電路設(shè)計
實驗3 汽車尾燈控制電路設(shè)計
實驗4 多路競賽搶答器電路設(shè)計
實驗5 交通燈控制電路設(shè)計
實驗6 數(shù)字電子鐘電路設(shè)計
第三部分 Multisim仿真應(yīng)用
第1章 Multisim 10簡介及其基本操作
1．1 Multisim 10概述
1．2 Multisim10的菜單命令
1．3 Multisim10的工具欄
1．4 Multisim 10的元器件庫
1．5 Multisim10的儀器儀表庫
1．6 構(gòu)建仿真電路的基本操作
第2章 Multisim電路仿真
2．1 集成門電路邏輯功能仿真
2．2 組合邏輯電路邏輯功能仿真
2．3 觸發(fā)器電路邏輯功能仿真
2．4 時序邏輯電路邏輯功能仿真
2．5 脈沖產(chǎn)生與整形電路仿真
2．6 半導(dǎo)體RAM仿真
參考文獻
附錄常用集成電路引腳圖