公差配合與技術測量

定　價：￥59.00

作　者：	張靜，張明，方春慧編
出版社：	北京理工大學出版社
叢編項：
標　簽：	暫缺

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ISBN：	9787568287173	出版時間：	2020-08-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數(shù)：	190	字數(shù)：

內(nèi)容簡介

　　《公差配合與技術測量》系統(tǒng)地介紹了公差配合與技術測量方面的基礎知識，全書共分6個項目，并以情境任務的形式進行講解，通俗易懂，實用性強，主要內(nèi)容包括：緒論、公差與配合、測量技術基礎與光滑尺寸檢測、幾何公差及檢測、表面粗糙度的檢測、常用結構件的公差配合與檢測。該書采用新國家標準，側重于基本概念的講解與常用測量方法和測量工具的運用，內(nèi)容簡明扼要、通俗易懂。在編排上，該書注重理論與實踐相結合，采用項目化教學模式，通過實際情境引出學習內(nèi)容，每個項目分為若干任務，每個任務由任務描述與要求、任務知識準備、任務實施組成，正文中還設置了小提示、知識鏈接等特色模塊，意在提高學生的學習興趣?！豆钆浜吓c技術測量》可作為高等院校機械類和近機類各專業(yè)的教學用書，也可作為從事機械設計與制造、標準化、計量測試等工程技術人員的參考用書。