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X射線檢測關(guān)鍵技術(shù)與應(yīng)用研究

X射線檢測關(guān)鍵技術(shù)與應(yīng)用研究

定　價：￥68.00

作　者： 方正 著
出版社： 廈門大學(xué)出版社
叢編項： 廈門大學(xué)南強叢書第7輯
標　簽： 理論物理學(xué) 物理學(xué) 自然科學(xué)
ISBN： 9787561580684 出版時間： 2021-03-01 包裝： 平裝-膠訂
開本： 16開 頁數(shù)： 字數(shù)：  

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