材料現(xiàn)代分析與測(cè)試技術(shù)（第2版）

第1章 X射線(xiàn)衍射分析
1．1 X射線(xiàn)的性質(zhì)及X射線(xiàn)的產(chǎn)生
1．1．1 X射線(xiàn)的性質(zhì)
1．1．2 X射線(xiàn)的產(chǎn)生
1．1．3 X射線(xiàn)譜
1．1．4 X射線(xiàn)的吸收和單色X射線(xiàn)的獲得
1．2 X射線(xiàn)與物質(zhì)的相互作用
1．2．1 散射效應(yīng)
1．2．2 光電效應(yīng)
1．3 X射線(xiàn)衍射的基本理論
1．3．1 倒易點(diǎn)陣
1．3．2 X射線(xiàn)衍射幾何條件
1．3．3 X射線(xiàn)衍射線(xiàn)束的強(qiáng)度
1．4 X射線(xiàn)衍射分析方法
1．4．1 多晶體材料衍射分析研究方法
1．4．2 單晶體材料衍射分析研究方法
1．5 衍射數(shù)據(jù)的基本處理
1．5．1 人工數(shù)據(jù)處理
1．5．2 計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)處理
1．6 X射線(xiàn)衍射的分析與應(yīng)用
1．6．1 X射線(xiàn)衍射分析的應(yīng)用
1．6．2 人工手動(dòng)分析與應(yīng)用
1．6．3 計(jì)算機(jī)程序分析與應(yīng)用
參考文獻(xiàn)
第2章 電子顯微分析
2．1 電子光學(xué)基礎(chǔ)
2．1．1 顯微鏡的分辨率及光學(xué)顯微鏡的局限性
2．1．2 電子的波性及波長(zhǎng)
2．1．3 電子在電磁場(chǎng)中的運(yùn)動(dòng)與電磁透鏡
2．1．4 電磁透鏡的像差
2．1．5 電磁透鏡的理論分辨率
2．1．6 電磁透鏡的場(chǎng)深和焦深
2．2 電子與固體物質(zhì)的相互作用
2．2．1 電子與固體物質(zhì)作用的物理過(guò)程
2．2．2 電子與固體物質(zhì)相互作用產(chǎn)生的信號(hào)
2．2．3 相互作用體積與信號(hào)產(chǎn)生的深度和廣度
2．3 透射電子顯微鏡
2．3．1 透射電子顯微鏡的發(fā)展
2．3．2 透射電子顯微鏡的基本結(jié)構(gòu)
2．3．3 透射電子顯微鏡的主要性能指標(biāo)
2．3．4 透射電子顯微鏡的樣品制備
2．4 電子衍射
2．4．1 電子衍射的特點(diǎn)
2．4．2 電子衍射基本公式
2．4．3 單晶電子衍射譜
2．4．4 多晶電子衍射譜
2．4．5 透射電子顯微鏡中的電子衍射方法
2．4．6 電子衍射譜的標(biāo)定
2．4．7 電子衍射物相分析的特點(diǎn)
2．5 透射電子顯微像及其襯度
2．5．1 質(zhì)厚襯度與復(fù)型膜電子像
2．5．2 薄晶體電子顯微像及其襯度
2．6 掃描電子顯微鏡
2．6．1 掃描電子顯微鏡的發(fā)展
2．6．2 掃描電鏡的工作原理及特點(diǎn)
2．6．3 掃描電鏡的基本結(jié)構(gòu)
2．6．4 掃描電鏡的主要性能指標(biāo)
2．6．5 掃描電鏡的場(chǎng)深
2．6．6 掃描電鏡的樣品制備
2．7 掃描電鏡像及其襯度
2．7．1 掃描電鏡像的襯度
2．7．2 二次電子像
2．7．3 背散射電子像
2．7．4 吸收電子像
2．8 電子探針X射線(xiàn)顯微分析
2．8．1 電子探針的結(jié)構(gòu)及工作原理
2．8．2 波譜儀
2．8．3 能譜儀
2．8．4 波譜儀和能譜儀的比較
2．8．5 電子探針?lè)治龇椒捌鋺?yīng)用
2．9 掃描探針顯微分析
2．9．1 掃描隧道顯微鏡及其應(yīng)用
……
第3章 熱分析
第4章 振動(dòng)光譜分析
第5章 電子能譜分析
第6章 發(fā)光材料光譜分析
第7章 核磁共振
第8章 分析測(cè)試方法知識(shí)體系再整合
參考文獻(xiàn)