嵌入式實(shí)時(shí)系統(tǒng)調(diào)試

定　價(jià)：￥79.00

作　者：	阿諾德 · S.伯格
出版社：	機(jī)械工業(yè)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	暫缺

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ISBN：	9787111727033	出版時(shí)間：	2023-05-01	包裝：	平裝-膠訂
開(kāi)本：	16開(kāi)	頁(yè)數(shù)：		字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　通過(guò)對(duì)真實(shí)案例的學(xué)習(xí)和對(duì)專業(yè)工具（例如邏輯分析儀、JTAG調(diào)試器和性能分析儀）的廣泛研究，本書(shū)提出了調(diào)試實(shí)時(shí)系統(tǒng)的實(shí)踐方法。它遵循嵌入式系統(tǒng)的傳統(tǒng)設(shè)計(jì)生命周期原理，指出了哪里會(huì)導(dǎo)致錯(cuò)誤，進(jìn)一步闡述如何在將來(lái)的設(shè)計(jì)中發(fā)現(xiàn)和避免錯(cuò)誤。它還研究了應(yīng)用程序性能監(jiān)控、單個(gè)程序運(yùn)行跟蹤記錄以及多任務(wù)OS中單獨(dú)運(yùn)行應(yīng)用的其它的調(diào)試和控制方法。

作者簡(jiǎn)介

暫缺《嵌入式實(shí)時(shí)系統(tǒng)調(diào)試》作者簡(jiǎn)介

圖書(shū)目錄

譯者序
前言
第1章　問(wèn)題在何處　/ 1
參考文獻(xiàn)　/ 8
第2章　系統(tǒng)化的調(diào)試方法　/ 9
2.1　調(diào)試的六個(gè)階段　/ 9
2.1.1　誰(shuí)有故障　/ 12
2.1.2　我遇到過(guò)的一個(gè)缺陷　/ 12
2.2　參考文獻(xiàn)　/ 22
第3章　嵌入式軟件調(diào)試的實(shí)踐　/ 23
3.1　引言　/ 23
3.2　造成嵌入式系統(tǒng)與眾
　　不同的原因　/ 24
3.2.1　嵌入式系統(tǒng)專門(mén)用于特定
　　　　　　的任務(wù)，而PC是通用的
　　　　　　計(jì)算平臺(tái)　/ 24
3.2.2　軟件失效在嵌入式系統(tǒng)中
　　　　　　造成的影響要比在桌面系
　　　　　　統(tǒng)中嚴(yán)重得多　/ 24
3.2.3　嵌入式系統(tǒng)具有實(shí)時(shí)性約束　/ 25
3.2.4　嵌入式系統(tǒng)可被各式各樣
　　　　　　的處理器以及處理器架構(gòu)
　　　　　　支持　/ 26
3.2.5　嵌入式系統(tǒng)通常對(duì)成本
　　　　　　非常敏感　/ 26
3.2.6　嵌入式系統(tǒng)具有功耗限制　/ 27
3.2.7　嵌入式系統(tǒng)必須能在
　　　　　　環(huán)境下工作　/ 27
3.2.8　嵌入式系統(tǒng)的資源要比桌面
　　　　　　系統(tǒng)少得多　/ 27
3.2.9　嵌入式微處理器通常具有
　　　　　　專用調(diào)試電路　/ 27
3.2.10　如果嵌入式系統(tǒng)用到了操作
　　　　　　　系統(tǒng)，那么它所用的很可能
　　　　　　　是實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)　/ 28
3.3　嵌入式系統(tǒng)調(diào)試的實(shí)踐　/ 28
3.4　通用軟件調(diào)試實(shí)踐　/ 32
3.5　嵌入式軟件調(diào)試實(shí)踐　/ 36
3.6　內(nèi)存泄漏　/ 37
3.7　時(shí)鐘抖動(dòng)　/ 39
3.8　優(yōu)先級(jí)反轉(zhuǎn)　/ 40
3.9　棧溢出　/ 40
3.10　本章小結(jié)　/ 41
3.11　拓展讀物　/ 42
3.12　參考文獻(xiàn)　/ 43
第4章　調(diào)試嵌入式硬件的實(shí)踐　/ 44
4.1　概述　/ 44
4.2　硬件調(diào)試過(guò)程　/ 44
4.3　設(shè)計(jì)評(píng)審　/ 45
4.4　測(cè)試計(jì)劃　/ 47
4.5　可測(cè)試性設(shè)計(jì)　/ 49
4.6　構(gòu)建流程　/ 50
4.7　了解你的工具　/ 53
4.8　微處理器設(shè)計(jì)實(shí)踐　/ 57
4.8.1　引言　/ 57
4.8.2　可測(cè)試性設(shè)計(jì)　/ 57
4.8.3　考慮PCB問(wèn)題　/ 58
4.9　本章小結(jié)　/ 63
4.10　拓展讀物　/ 64
4.11　參考文獻(xiàn)　/ 64
第5章　嵌入式設(shè)計(jì)與調(diào)試工具概覽　/ 66
5.1　概述　/ 66
5.2　調(diào)試器　/ 66
5.3　軟硬件協(xié)同驗(yàn)證　/ 69
5.4　ROM仿真器　/ 73
5.5　邏輯分析儀　/ 77
5.6　邏輯分析儀的優(yōu)勢(shì)　/ 84
5.7　邏輯分析儀的問(wèn)題　/ 84
5.8　在線仿真器　/ 85
5.9　拓展讀物　/ 89
5.10　參考文獻(xiàn)　/ 89
第6章　硬件/軟件集成階段　/ 90
6.1　概述　/ 90
6.2　硬件/軟件集成圖　/ 90
6.3　非標(biāo)準(zhǔn)硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器接口的案例　/ 91
6.4　向量顯示器的后關(guān)頭　/ 92
6.5　性能差勁的仿真器卡籠　/ 92
6.6　功能蠕變和大客戶　/ 93
6.7　參考文獻(xiàn)　/ 108
第7章　片上調(diào)試資源　/ 110
7.1　概述　/ 110
7.2　后臺(tái)調(diào)試模式　/ 111
7.3　JTAG　/ 112
7.4　MIPS EJTAG　/ 115
7.5　本章小結(jié)　/ 116
7.6　參考文獻(xiàn)　/ 118
第8章　片上系統(tǒng)　/ 119
8.1　概述　/ 119
8.2　現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列　/ 120
8.3　虛擬化　/ 126
8.4　本章小結(jié)　/ 129
8.5　拓展讀物　/ 130
8.6　參考文獻(xiàn)　/ 130
第9章　隔離缺陷的測(cè)試方法　/ 131
9.1　概述　/ 131
9.2　查找問(wèn)題的障礙　/ 131
9.3　臨時(shí)應(yīng)急　/ 132
9.4　尋求幫助　/ 132
9.5　故障隔離　/ 133
9.5.1　了解你的工具　/ 134
9.5.2　理解你的設(shè)計(jì)　/ 136
9.6　與性能相關(guān)的故障　/ 137
9.7　可復(fù)現(xiàn)故障　/ 137
9.8　間歇性故障　/ 138
9.9　合規(guī)故障　/ 141
9.10　擴(kuò)頻振蕩器　/ 142
9.11　熱故障　/ 144
9.12　機(jī)械問(wèn)題　/ 146
9.13　與供電相關(guān)的故障　/ 147
9.14　本章小結(jié)　/ 149
9.15　參考文獻(xiàn)　/ 151
第10章　調(diào)試實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)　/ 152
10.1　概述　/ 152
10.2　RTOS中的缺陷　/ 152
10.3　同步問(wèn)題　/ 153
10.4　內(nèi)存崩潰　/ 154
10.5　與中斷相關(guān)的問(wèn)題　/ 155
10.6　意想不到的編譯器優(yōu)化　/ 157
10.7　異?！? 157
10.8　RTOS感知工具：一個(gè)示例　/ 159
10.9　參考文獻(xiàn)　/ 163
第11章　串行通信系統(tǒng)　/ 164
11.1　引言　/ 164
11.2　RS-232　/ 165
11.3　錯(cuò)誤的COM端口分配　/ 165
11.4　不正確的電纜引腳　/ 166
11.5　錯(cuò)誤的波特率（時(shí)鐘頻率）　/ 166
11.6　不正確的流控　/ 167
11.7　I2C和SMBus協(xié)議　/ 168
11.8　SPI協(xié)議　/ 171
11.9　工具　/ 174
11.10　控制器局域網(wǎng)絡(luò)（CAN總線）　/ 174
11.11　本章小結(jié)　/ 175
11.12　拓展讀物　/ 175
11.13　參考文獻(xiàn)　/ 175
第12章　存儲(chǔ)器