電感耦合等離子體光譜與質(zhì)譜分析技術(shù)

定　價(jià)：￥128.00

作　者：	鄭國(guó)經(jīng)、馮先進(jìn)、羅倩華編著
出版社：	化學(xué)工業(yè)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	暫缺

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ISBN：	9787122460691	出版時(shí)間：	2025-01-01	包裝：	平裝
開(kāi)本：	16開(kāi)	頁(yè)數(shù)：		字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　本書(shū)對(duì)電感耦合等離子體（ICP）做了詳細(xì)的介紹，包括ICP的生成、光源和離子源，ICP光譜光源與質(zhì)譜離子源的分析特點(diǎn)，ICP-OES/MS儀器設(shè)備，進(jìn)樣方式，樣品制備以及ICP-OES和ICP-MS的分析操作技術(shù)。分析操作技術(shù)包括實(shí)驗(yàn)準(zhǔn)備、儀器操作、分析方法、應(yīng)用技巧和各領(lǐng)域的應(yīng)用介紹，在應(yīng)用部分基于現(xiàn)有標(biāo)準(zhǔn)，對(duì)方法進(jìn)行解讀。本書(shū)是針對(duì)日益為各實(shí)驗(yàn)室普遍采用的元素分析手段ICP-OES/MS的推廣使用而編寫(xiě)的，可以作為技術(shù)培訓(xùn)教材或職業(yè)院校相關(guān)專業(yè)教材。

作者簡(jiǎn)介

　　鄭國(guó)經(jīng) 教授級(jí)高工。一直從事與特種金屬材料研制剖析、材料分析研究工作。在金屬材料化學(xué)分析和原子光譜分析技術(shù)研究及應(yīng)用等方面有科研成果及論文、專著。2000年以后參加科技部科技基礎(chǔ)條件平臺(tái)建設(shè)、實(shí)驗(yàn)室能力驗(yàn)證研究、全國(guó)分析檢測(cè)人員技術(shù)培訓(xùn)及考核工作。曾為北京理化分析測(cè)試技術(shù)學(xué)會(huì)副理事長(zhǎng)、北京光譜分會(huì)理事長(zhǎng)，中國(guó)分析測(cè)試協(xié)會(huì)光譜儀器評(píng)議專家組組長(zhǎng)，全國(guó)分析測(cè)試人員能力培訓(xùn)委員會(huì)（NTC）秘書(shū)處技術(shù)培訓(xùn)及考核專家。馮先進(jìn) 礦冶科技集團(tuán)北礦檢測(cè)技術(shù)股份有限公司暨國(guó)家重有色金屬質(zhì)量檢驗(yàn)檢測(cè)中心研究員/正高ji工程師，享受國(guó)務(wù)院政府特殊津貼專家，礦冶集團(tuán)科技創(chuàng)新領(lǐng)軍人才。SAC/TC481委員，SAC/TC118/SC3委員，ISO/TC 183 WG25委員?！兑苯鸱治觥?、《中國(guó)無(wú)機(jī)分析化學(xué)》雜志編委。主起草并發(fā)布實(shí)施國(guó)際ISO、國(guó)家和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)25項(xiàng)，參與起草60余項(xiàng)，研制國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品2項(xiàng)。獲國(guó)家發(fā)明專利等知識(shí)產(chǎn)權(quán)10余項(xiàng)，發(fā)表文章60余篇，參與編寫(xiě)出版著作10余部。兼任北京理化分析測(cè)試技術(shù)學(xué)會(huì)副理事長(zhǎng)，光譜分會(huì)理事長(zhǎng)；中國(guó)儀器儀表學(xué)會(huì)分析儀器分會(huì)第十屆理事會(huì)理事；中國(guó)檢驗(yàn)檢測(cè)學(xué)會(huì)測(cè)試裝備分會(huì)第1屆理事會(huì)理事；國(guó)家技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)創(chuàng)新基地（稀土）第1屆理事會(huì)理事等。羅倩華工學(xué)博士。1990年畢業(yè)于吉林大學(xué)環(huán)境科學(xué)系環(huán)境化學(xué)專業(yè)，現(xiàn)為鋼研納克檢測(cè)技術(shù)股份有限公司教授級(jí)高工？一直從事冶金材料分析方法研究和分析標(biāo)準(zhǔn)制修訂等工作，在等離子光譜及質(zhì)譜分析方法研究方面有科研成果及論文？著作？現(xiàn)為全國(guó)鋼標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)鋼鐵及合金化學(xué)成分測(cè)定分技術(shù)委員會(huì)秘書(shū)長(zhǎng)，組織和承擔(dān)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)？國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)及冶金行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的制修訂工作，為《冶金分析》期刊編委？

圖書(shū)目錄

第1章　概述 001
1.1　等離子體的概念、特性及類型 001
1.1.1　等離子體的概念 001
1.1.2　等離子體的物理特性 002
1.1.3　等離子體的類型 002
1.2　無(wú)機(jī)分析中的等離子體概念 003
1.3　無(wú)機(jī)分析中的電感耦合等離子體 004
1.4　電感耦合等離子體光譜與質(zhì)譜分析技術(shù) 005
1.4.1　ICP-OES的分析特點(diǎn) 006
1.4.2　ICP-MS的分析特點(diǎn) 006
第2章　電感耦合等離子體 008
2.1　電感耦合等離子體的生成 008
2.1.1　ICP焰炬的形成過(guò)程 008
2.1.2　ICP焰炬的形成條件 009
2.1.3　ICP焰炬形狀與趨膚效應(yīng) 010
2.1.4　ICP焰炬形狀與高頻頻率 010
2.2　ICP的炬管結(jié)構(gòu)及工作氣體 011
2.2.1　ICP的炬管結(jié)構(gòu) 011
2.2.2　ICP的工作氣體 012
2.3　ICP光源、離子源及焰炬的特性 013
2.3.1　ICP光源的特性 013
2.3.2　ICP離子源的特性 014
2.3.3　ICP焰炬的溫度特性及分布 015
2.4　ICP光譜光源與質(zhì)譜離子源的異同 017
2.4.1　ICP光譜激發(fā)光源的分析特性 017
2.4.2　ICP質(zhì)譜離子源的分析特性 017
2.5　光譜光源與質(zhì)譜離子源的分析特點(diǎn)及互補(bǔ)性 018
2.5.1　ICP-OES分析的依據(jù)及過(guò)程 018
2.5.2　ICP-OES分析方法的優(yōu)點(diǎn)與不足 018
2.5.3　ICP-MS分析的依據(jù)及過(guò)程 019
2.5.4　ICP-MS分析方法的優(yōu)點(diǎn)與不足 019
2.5.5　ICP-OES/MS的互補(bǔ)性 020
第3章　ICP-OES/MS分析的儀器設(shè)備 022
3.1　ICP-OES/MS的通用設(shè)備 022
3.1.1　高頻發(fā)生器 022
3.1.2　等離子體炬管 026
3.1.3　進(jìn)樣系統(tǒng) 029
3.2　ICP-OES分析儀器設(shè)備 039
3.2.1　激發(fā)光源 039
3.2.2　分光系統(tǒng) 042
3.2.3　檢測(cè)系統(tǒng) 053
3.2.4　計(jì)算機(jī)及電控系統(tǒng) 060
3.2.5　光譜干擾校正系統(tǒng) 061
3.2.6　ICP-OES儀器性能的要求和判斷 062
3.3　ICP-MS分析儀器設(shè)備 064
3.3.1　ICP離子源 064
3.3.2　接口及離子光學(xué)系統(tǒng) 065
3.3.3　四極桿質(zhì)量分析器 070
3.3.4　質(zhì)譜干擾消除系統(tǒng) 071
3.3.5　離子檢測(cè)器 074
3.3.6　數(shù)據(jù)處理系統(tǒng) 074
3.3.7　輔助系統(tǒng) 075
3.3.8　ICP-MS儀器性能要求及測(cè)試方法 076
3.4　ICP-OES/MS分析的常規(guī)儀器 076
3.4.1　常規(guī)ICP-OES商品儀器 076
3.4.2　常規(guī)ICP-MS商品儀器 077
第4章　ICP-OES/MS分析的進(jìn)樣方式與標(biāo)準(zhǔn)制備 079
4.1　進(jìn)樣方式 079
4.1.1　液體進(jìn)樣方式 079
4.1.2　固體進(jìn)樣方式 080
4.1.3　氣體進(jìn)樣方式 080
4.1.4　其他進(jìn)樣方式 081
4.2　樣品前處理 081
4.2.1　分析樣品要求 081
4.2.2　分析用試劑 082
4.2.3　分析試液的制備 083
4.2.4　各種類型試樣的分析試液制備 085
4.2.5　形態(tài)分析樣品的前處理 087
4.3　標(biāo)準(zhǔn)溶液制備 088
第5章　ICP-OES分析操作技術(shù) 090
5.1　實(shí)驗(yàn)準(zhǔn)備 090
5.1.1　ICP-OES進(jìn)樣裝置設(shè)定 090
5.1.2　分析試樣的準(zhǔn)備 091
5.1.3　標(biāo)準(zhǔn)校正樣品的選擇 091
5.1.4　ICP-OES分析程序文件的設(shè)定 091
5.2　儀器操作 092
5.2.1　日常分析操作事項(xiàng) 092
5.2.2　ICP-OES儀器主要操作條件的選擇 097
5.2.3　儀器檢定與維護(hù) 102
5.2.4　樣品分析結(jié)果的質(zhì)量控制 104
5.3　ICP-OES的分析測(cè)定方法 106
5.3.1　多元素直接測(cè)定 106
5.3.2　分離-富集測(cè)定 106
5.3.3　無(wú)機(jī)物料的測(cè)定 108
5.3.4　有機(jī)物料測(cè)定 108
5.4　ICP-OES應(yīng)用技巧 109
5.4.1　儀器選用 109
5.4.2　分析方法選用 109
5.4.3　儀器應(yīng)用擴(kuò)展 110
5.5　ICP-OES法在各個(gè)領(lǐng)域中的應(yīng)用 110
5.5.1　在無(wú)機(jī)材料及化合物分析中的應(yīng)用 111
5.5.2　在地質(zhì)資源與礦物材料分析中的應(yīng)用 116
5.5.3　在水質(zhì)、環(huán)境樣品分析中的應(yīng)用 118
5.5.4　在生化樣品與藥物分析中的應(yīng)用 121
5.5.5　在石油化工產(chǎn)品及能源樣品分析中的應(yīng)用 122
5.5.6　在食品分析中的應(yīng)用 125
5.5.7　在元素形態(tài)分析中的應(yīng)用 125
5.5.8　在電子電器、輕工產(chǎn)品分析中的應(yīng)用 126
第6章　ICP-MS分析操作技術(shù) 128
6.1　實(shí)驗(yàn)準(zhǔn)備 128
6.1.1　ICP-MS進(jìn)樣裝置設(shè)定 128
6.1.2　質(zhì)譜分析樣品前處理 129
6.1.3　質(zhì)譜分析用校正樣品選擇 129
6.1.4　ICP-MS測(cè)定方法的建立 129
6.2　儀器操作 130
6.2.1　儀器操作及使用要求 130
6.2.2　分析操作條件的設(shè)定 132
6.2.3　分析方法建立及標(biāo)準(zhǔn)曲線繪制 135
6.2.4　樣品分析及結(jié)果質(zhì)量控制 136
6.2.5　儀器檢定與維護(hù) 136
6.3　ICP-MS分析方法 141
6.3.1　ICP-MS元素含量及同位素比值分析 141
6.3.2　元素形態(tài)分析技術(shù) 146
6.3.3　單顆粒分析技術(shù) 148
6.3.4　分析通則 148
6.4　ICP-MS分析準(zhǔn)確度影響因素及解決辦法 151
6.4.1　ICP-MS分析準(zhǔn)確度檢驗(yàn)方法 151
6.4.2　樣品處理過(guò)程的影響及解決辦法 152
6.4.3　樣品分析測(cè)定過(guò)程的影響 154
6.4.4　分析方法的選擇及可靠性的判斷方法 155
6.5　ICP-MS在無(wú)機(jī)分析上的應(yīng)用技巧 155
6.5.1　儀器選用 155
6.5.2　分析方法采用 156
6.5.3　儀器應(yīng)用擴(kuò)展 156
6.6　ICP-MS在各個(gè)領(lǐng)域中的應(yīng)用 157
6.6.1　在地質(zhì)和礦物樣品分析中的應(yīng)用 157
6.6.2　在金屬材料及金屬氧化物分析中的應(yīng)用 167
6.6.3　在環(huán)境樣品分析中的應(yīng)用 176
6.6.4　在食品醫(yī)藥和生化樣品分析中的應(yīng)用 191
6.6.5　在有機(jī)產(chǎn)品分析中的應(yīng)用 207
6.6.6　在元素價(jià)態(tài)和形態(tài)分析中的應(yīng)用 218
6.6.7　在現(xiàn)場(chǎng)在線分析中的應(yīng)用 236
第7章　ICP光譜/ICP質(zhì)譜儀器進(jìn)展與應(yīng)用前景 242
7.1　ICP光譜分析儀器的進(jìn)展 242
7.1.1　ICP發(fā)射光譜儀的現(xiàn)狀 242
7.1.2　ICP光譜分析儀器的技術(shù)動(dòng)態(tài) 243
7.2　ICP質(zhì)譜分析儀器的進(jìn)展 246
7.2.1　碰撞/反應(yīng)池技術(shù)ICP-MS 246
7.2.2　三重四極桿ICP-MS 246
7.2.3　應(yīng)用新進(jìn)展 247
7.2.4　展望 249
7.3　ICP-OES/MS在國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)及行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)上的應(yīng)用 250
7.3.1　現(xiàn)行的有關(guān)ICP-OES標(biāo)準(zhǔn) 250
7.3.2　現(xiàn)行的有關(guān)ICP-MS標(biāo)準(zhǔn) 261
附錄 273
附錄1 ICP-OES分析常用光譜線 273
附錄2 ICP-MS常用分析質(zhì)量數(shù) 278
附錄3 GB/T 34826—2017《四極桿電感耦合等離子體質(zhì)譜儀性能的測(cè)定方法》 282
參考文獻(xiàn) 287