光電測(cè)量技術(shù)

定　價(jià)：￥96.00

作　者：	顏樹(shù)華，朱凌曉，王國(guó)超，楊俊著
出版社：	國(guó)防工業(yè)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	暫缺

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ISBN：	9787118134186	出版時(shí)間：	2024-09-01	包裝：	平裝-膠訂
開(kāi)本：	16開(kāi)	頁(yè)數(shù)：		字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　本書較為系統(tǒng)地介紹了主要光電測(cè)量技術(shù)的基本概念、理論基礎(chǔ)、測(cè)量方法、系統(tǒng)組成及技術(shù)特點(diǎn)，內(nèi)容包括光電探測(cè)、激光干涉測(cè)量、激光衍射測(cè)量、光纖傳感測(cè)量、視覺(jué)測(cè)量、飛秒光頻梳精密測(cè)量及其他激光測(cè)量技術(shù)，既注重基礎(chǔ)理論性更關(guān)注先進(jìn)性和實(shí)用性。本書可供從事光電工程、測(cè)試計(jì)量、光學(xué)工程、精密儀器、精密制造、航空航天及測(cè)繪等領(lǐng)域工作的相關(guān)科技人員參考使用，也可作為高等院校相關(guān)專業(yè)的高年級(jí)本科學(xué)生和研究生教材。

作者簡(jiǎn)介

　　顏樹(shù)華，工學(xué)博士，國(guó)防科技大學(xué)教授，博士生導(dǎo)師，主要從事光電傳感及精密測(cè)試、微光學(xué)器件設(shè)計(jì)及制作、量子時(shí)空基準(zhǔn)等方向的教學(xué)科研工作。先后主講本科生和研究生課程共7門，主持國(guó)家和省部級(jí)科研項(xiàng)目20余項(xiàng)。發(fā)表學(xué)術(shù)論文100余篇，其中有60余篇進(jìn)入SCIEI檢索，出版專著和教材各1部。研究成果獲軍隊(duì)科技進(jìn)步二等獎(jiǎng)1次、全國(guó)發(fā)明展覽會(huì)金獎(jiǎng)1次，授權(quán)國(guó)家發(fā)明專利近20項(xiàng)。