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功率器件熱可靠性檢測與分析技術

功率器件熱可靠性檢測與分析技術

定 價:¥118.00

作 者: 萬博,付桂翠 編
出版社: 國防工業(yè)出版社
叢編項:
標 簽: 暫缺

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ISBN: 9787118130850 出版時間: 2024-01-01 包裝: 平裝-膠訂
開本: 16開 頁數(shù): 字數(shù):  

內(nèi)容簡介

  本書主要圍繞功率器件在高溫和溫度變化下的熱可靠性這一主題,對功率器件基本概念、熱相關可靠性檢測、試驗和分析進行了介紹。在功率器件基本概念部分主要介紹了功率器件的分類、功能結構、工藝,并引出了現(xiàn)有功率器件可能存在的熱可靠性問題。功率器件熱可靠性檢測、試驗部分主要介紹了功率器件的缺陷檢測方法、可靠性試驗方法和狀態(tài)監(jiān)測方法。最后在功率器件熱可靠性分析方面,介紹了功率器件的電熱耦合及封裝結構仿真分析方法。本書在編寫過程中結合了狀態(tài)監(jiān)測和健康管理、物理基仿真和失效物理等可靠性新技術,研究建立了具有一定創(chuàng)新性的功率器件檢測、試驗和分析方法。同時,本書還特別強調(diào)了理論與工程的結合、試驗與仿真的結合,具有較強的工程實用性。本書是作者及其科研團隊總結多年的研究成果編著而成,可供功率器件可靠性檢測和分析人員學習和參考。

作者簡介

  付桂翠,女,1968年生,博士,教授,博士生導師,總裝某重點型號可靠性專家組成員。主要研究領域為電子元器件可靠性理論與應用、電子元器件可靠性試驗與評價等,曾主持和參與了多項國防預先研究、國防973、國防基礎研究、技術基礎及重大型號課題的研究。

圖書目錄

●第1章 功率器件發(fā)展及分類
1.1 功率器件發(fā)展歷程
1.1.1功率器件簡介
1.1.2晶閘管發(fā)展歷程
1.1.3功率MOSFET發(fā)展歷程
1.1.4IGBT發(fā)展歷程
1.2 功率器件的主要類型
1.2.1功率器件的分類方式
1.2.2功率二極管的主要類型
1.2.3功率晶閘管的主要類型
1.2.4功率BJT的主要類型
1.2.5MOSFET的主要類型
1.2.6IGBT的主要類型
1.3 功率器件的發(fā)展趨勢
1.3.1整體發(fā)展趨勢
1.3.2碳化硅(SiC)功率器件發(fā)展趨勢
1.3.3氮化鎵(GaN)功率器件發(fā)展趨勢
參考文獻
……  

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