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空間光學(xué)系統(tǒng)

空間光學(xué)系統(tǒng)

定 價(jià):¥138.00

作 者: 曹東晶
出版社: 中國(guó)宇航出版社
叢編項(xiàng):
標(biāo) 簽: 暫缺

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ISBN: 9787515922836 出版時(shí)間: 2024-08-01 包裝: 平裝-膠訂
開(kāi)本: 16開(kāi) 頁(yè)數(shù): 字?jǐn)?shù):  

內(nèi)容簡(jiǎn)介

  空間光學(xué)是在高層大氣中和大氣外層空間利用光學(xué)設(shè)備對(duì)空間和地球進(jìn)行觀測(cè)與研究的技術(shù),是應(yīng)用光學(xué)的一個(gè)分支。1957年,蘇聯(lián)發(fā)射了第一顆人造衛(wèi)星,標(biāo)志著空間時(shí)代的到來(lái)。目前,空間光學(xué)及光學(xué)儀器主要應(yīng)用在對(duì)地球觀測(cè)和研究和對(duì)空間觀測(cè)和研究。本書從空間光學(xué)遙感器的緒論、典型空間成像光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)、空間光機(jī)系統(tǒng)設(shè)計(jì)、空間光學(xué)元件加工與檢測(cè)、空間光學(xué)系統(tǒng)鍍膜技術(shù)、空間光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)、空間光學(xué)系統(tǒng)測(cè)試與評(píng)價(jià)等幾方面進(jìn)行了介紹。

作者簡(jiǎn)介

  曹東晶,航天科技集團(tuán)光學(xué)遙感領(lǐng)域技術(shù)帶頭人、創(chuàng)新團(tuán)隊(duì)帶頭人。長(zhǎng)期從事光學(xué)遙感器總體技術(shù)和相關(guān)型號(hào)研制工作。曾任高分二號(hào)、高分九號(hào)等六型衛(wèi)星副總師,現(xiàn)任高分十三號(hào)衛(wèi)星副總師。

圖書目錄

第1章緒論1
1.1空間光學(xué)遙感器概述1
1.1.1基本概念1
1.1.2基本組成2
1.1.3分類2
1.2空間光學(xué)系統(tǒng)及發(fā)展概況3
1.3空間光學(xué)系統(tǒng)的特點(diǎn)6
1.4空間光學(xué)系統(tǒng)研制流程8
1.5空間光學(xué)系統(tǒng)發(fā)展趨勢(shì)10
1.5.1超大口徑空間光學(xué)系統(tǒng)10
1.5.2計(jì)算成像及計(jì)算光學(xué)系統(tǒng)13
1.5.3仿生光學(xué)系統(tǒng)14
1.5.4微納光學(xué)系統(tǒng)15
參考文獻(xiàn)18
第2章典型空間成像光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)19
2.1概述19
2.2空間光學(xué)系統(tǒng)類型21
2.2.1折射式22
2.2.2折反射式25
2.2.3全反射式27
2.3典型光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)方法35
2.3.1折射式系統(tǒng)的設(shè)計(jì)36
2.3.2折反射系統(tǒng)的設(shè)計(jì)38
參考文獻(xiàn)49
第3章空間光機(jī)系統(tǒng)設(shè)計(jì)50
3.1概述50
3.2光機(jī)系統(tǒng)常用材料51
3.2.1折射式光學(xué)系統(tǒng)常用材料51
3.2.2反射式光學(xué)系統(tǒng)常用材料54
3.3空間光學(xué)元件及支撐結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)55
3.3.1透射式光學(xué)元件及支撐結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)55
3.3.2反射式光學(xué)元件及支撐結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)57
3.4光機(jī)主體結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)68
3.4.1光機(jī)主體結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)概述68
3.4.2筒式結(jié)構(gòu)69
3.4.3框架式結(jié)構(gòu)73
3.4.4桿系結(jié)構(gòu)73
3.4.5支撐桿式結(jié)構(gòu)76
3.5光機(jī)系統(tǒng)集成仿真及試驗(yàn)驗(yàn)證77
3.5.1光機(jī)集成仿真77
3.5.2光機(jī)系統(tǒng)試驗(yàn)驗(yàn)證79
參考文獻(xiàn)81
第4章空間光學(xué)元件加工與檢測(cè)83
4.1概述83
4.1.1空間光學(xué)元件加工技術(shù)的特點(diǎn)84
4.1.2空間光學(xué)元件加工技術(shù)的發(fā)展歷程86
4.1.3空間光學(xué)元件加工的技術(shù)路線88
4.2鏡坯成型及輕量化技術(shù)89
4.2.1微晶玻璃鏡坯90
4.2.2超低膨脹石英玻璃鏡坯91
4.2.3碳化硅鏡坯93
4.3微應(yīng)力高精度精修技術(shù)94
4.3.1磁流變拋光技術(shù)95
4.3.2離子束修形技術(shù)96
4.3.3流體射流拋光技術(shù)98
4.4檢測(cè)技術(shù)101
4.4.1光學(xué)元件各階段檢測(cè)方法101
4.4.2輪廓幾何測(cè)試法102
4.4.3干涉測(cè)試法103
4.4.4常規(guī)檢測(cè)數(shù)據(jù)處理要點(diǎn)103
4.5重力卸載技術(shù)105
4.5.1重力卸載技術(shù)的作用105
4.5.2重力卸載裝置107
4.5.3重力誤差的數(shù)據(jù)處理方法110
參考文獻(xiàn)114
第5章空間光學(xué)系統(tǒng)鍍膜技術(shù)116
5.1概述116
5.2反射膜118
5.2.1典型金屬反射膜的光譜及設(shè)計(jì)特點(diǎn)118
5.2.2金屬反射膜空間應(yīng)用的基本要求120
5.3空間用濾光片121
5.3.1帶通濾光片121
5.3.2多色濾光片、分光(束)膜簡(jiǎn)介125
5.4鍍膜工藝介紹129
5.4.1熱蒸發(fā)129
5.4.2濺射131
5.4.3鍍膜過(guò)程中的應(yīng)力控制132
5.4.4鍍膜過(guò)程中的膜厚均勻性控制134
5.4.5鍍膜前鏡面清洗138
5.5膜層質(zhì)量檢測(cè)方法139
參考文獻(xiàn)141
第6章空間光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)143
6.1概述143
6.1.1現(xiàn)代空間光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)發(fā)展趨勢(shì)143
6.1.2空間光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)的技術(shù)特點(diǎn)145
6.1.3空間光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)應(yīng)關(guān)注的設(shè)計(jì)指標(biāo)147
6.2可見(jiàn)透射式系統(tǒng)裝調(diào)147
6.2.1鏡頭裝調(diào)的技術(shù)路線147
6.2.2可見(jiàn)光元件的折射率測(cè)試150
6.2.3部組件微應(yīng)力裝配及驗(yàn)證150
6.2.4透鏡部組件定心技術(shù)152
6.2.5實(shí)驗(yàn)室組合定心技術(shù)152
6.2.6基于組合定心的計(jì)算機(jī)輔助裝調(diào)技術(shù)154
6.3紅外透射式鏡頭裝調(diào)155
6.3.1紅外透射鏡頭裝調(diào)技術(shù)路線156
6.3.2紅外元件折射率測(cè)試158
6.3.3紅外部組件的裝配與測(cè)試159
6.3.4紅外鏡頭實(shí)驗(yàn)室定心160
6.4中小口徑反射式系統(tǒng)裝調(diào)163
6.4.1鏡頭裝調(diào)技術(shù)路線163
6.4.2計(jì)算機(jī)輔助裝調(diào)技術(shù)164
6.4.3非球面反射鏡光軸引出166
6.4.4光學(xué)部件精密裝配與實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證168
6.4.5三種典型的系統(tǒng)裝調(diào)技術(shù)171
6.5大口徑及超大口徑反射式系統(tǒng)裝調(diào)174
6.5.1大口徑及超大口徑反射式系統(tǒng)特點(diǎn)174
6.5.2光軸豎直裝調(diào)技術(shù)177
6.5.3反射鏡元件支撐結(jié)構(gòu)裝配179
6.5.4大口徑元件波前探測(cè)技術(shù)179
6.5.5基于主動(dòng)光學(xué)的大口徑分塊鏡集成裝調(diào)180
參考文獻(xiàn)184
第7章空間光學(xué)系統(tǒng)測(cè)試與評(píng)價(jià)186
7.1概述186
7.2空間光學(xué)系統(tǒng)成像質(zhì)量測(cè)試186
7.2.1波像差186
7.2.2調(diào)制傳遞函數(shù)MTF189
7.2.3能量集中度195
7.3空間光學(xué)系統(tǒng)特性參數(shù)測(cè)試196
7.3.1焦距196
7.3.2視場(chǎng)角200
7.3.3 F數(shù)201
7.3.4透射比(透過(guò)率)202
7.4與輻射質(zhì)量相關(guān)量的測(cè)試203
7.4.1雜散光203
7.4.2偏振度205
7.5與幾何質(zhì)量相關(guān)量的測(cè)試207
7.6空間光學(xué)系統(tǒng)成像質(zhì)量影響因素分析209
7.6.1空間光學(xué)系統(tǒng)測(cè)試的特點(diǎn)209
7.6.2測(cè)試鏈路誤差源分析210
7.6.3變重力及真空環(huán)境影響210
7.6.4光學(xué)表面面形及鏡頭支撐影響211
7.6.5其他影響因素212
參考文獻(xiàn)214

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